[实用新型]一种提高GaN芯片可靠性的封装结构有效

专利信息
申请号: 202220446989.9 申请日: 2022-03-02
公开(公告)号: CN216849927U 公开(公告)日: 2022-06-28
发明(设计)人: 廖弘昌;钱进;刘振东;田亚南;陈晓林 申请(专利权)人: 日月新半导体(威海)有限公司
主分类号: H01L23/495 分类号: H01L23/495;H01L23/367;H01L23/40
代理公司: 青岛致嘉知识产权代理事务所(普通合伙) 37236 代理人: 吴杉
地址: 264200 山东省威海市经*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 实用新型公开了一种提高GaN芯片可靠性的封装结构,包括基板,所述基板的顶部分别固定连接有粘连层和引脚板,所述粘连层的顶部固定粘连有芯片,所述芯片的顶部固定粘连有导热层,所述导热层的顶部固定粘连有绝缘层,所述绝缘层的顶部固定粘连有导热板,所述基板的顶部固定连接有壳体,所述壳体的顶部固定连接有封盖,所述导热板的顶部与封盖的底部活动连接,所述封盖的顶部贯穿设置有固定螺栓,所述固定螺栓的底部贯穿至导热板内。本实用具备散热效果好的优点,解决了GaN芯片封装结构在长时间工作时,对GaN芯片的散热效果和防护效果较差,降低了GaN芯片使用的可靠性,容易导致GaN芯片产生的热量堆积在封装结构内的问题。
搜索关键词: 一种 提高 gan 芯片 可靠性 封装 结构
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