[发明专利]一种用于提高芯片测试效率的方法

摘要

本发明公开了一种用于提高芯片测试效率的方法，包括如下测试步骤：S1、解析被测芯片测试规范，了解需要测试的项目、引脚和pattern相关信息，S2、创建工程，进行测试前的基础设置，本发明通过了解被测芯片的相关信息和需要测试的项目，定义引脚以及引脚组，使多个引脚被编辑在引脚组内，方便后期直接取用，设置测试项、编写测试代码，产生DLL，加载运行，最后进行测试项的测试和调试，达到测试的目的，在测试时一个一个进行测试，拼比其他测试项能够保证单个测试项的测试更加精准，使测试更加有序，使测试过程顺利，节省测试的时间，提高测试的频率，使测试的效率更高。