[发明专利]一种用于提高芯片测试效率的方法

说明书

本发明公开了一种用于提高芯片测试效率的方法，包括如下测试步骤：S1、解析被测芯片测试规范，了解需要测试的项目、引脚和pattern相关信息，S2、创建工程，进行测试前的基础设置，本发明通过了解被测芯片的相关信息和需要测试的项目，定义引脚以及引脚组，使多个引脚被编辑在引脚组内，方便后期直接取用，设置测试项、编写测试代码，产生DLL，加载运行，最后进行测试项的测试和调试，达到测试的目的，在测试时一个一个进行测试，拼比其他测试项能够保证单个测试项的测试更加精准，使测试更加有序，使测试过程顺利，节省测试的时间，提高测试的频率，使测试的效率更高。

技术领域

本发明涉及芯片测试测试技术领域，具体为一种用于提高芯片测试效率的方法。

背景技术

芯片测试是一个比较大的问题，直接贯穿整个芯片设计与量产的过程中，测试主要是使用人工或自动的手段来运行或测定某个软件系统的过程，其目的在于检验它是否满足规定的需求或弄清预期结果与实际结果之间的差别，在对芯片进行测试才能对芯片的性能进行掌握，从而使芯片不会被错误使用；

但是目前芯片测试的方法对于芯片的测试频率较低，无法快速的对芯片进行测试，芯片的测试频率较低，延长了测试的时间，测试的效率较低。

发明内容

本发明提供一种用于提高芯片测试效率的方法，可以有效解决上述背景技术中提出目前芯片测试的方法对于芯片的测试频率较低，无法快速的对芯片进行测试，芯片的测试频率较低，延长了测试的时间，测试的效率较低的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种用于提高芯片测试效率的方法，包括如下测试步骤：

S1、解析被测芯片测试规范，了解需要测试的项目、引脚和pattern相关信息；

S2、创建工程，进行测试前的基础设置，包括定义引脚对应以及引脚组、编译PATTERN、定义BIN、设置测试项和测试参数和设置测试系统参数；

S3、编写测试代码，根据情况对相应功能的函数体编写代码，涉及的函数包括DvtInitBeforeTest函数、DvtInitAfterTest函数、DUT_Init函数、DUT_Eot和DUT_Eow函数、模拟量参数测量函数、数字逻辑参数的测量函数和殊应用的测量函数；

S4、产生DLL，加载运行，等到所有测试函数的代码都填写完毕，即可生成一个DLL文件，在主面板加载进入测试模式，点击运行；

S5、依次进行测试项的测试，并利用调试模式进行调试。

根据上述技术方案，所述S1中，测试前还需要了解测试芯片使用的板卡通道数量、芯片测试的电流和电压情况；

在进行FT测试时，按照规范进行测试项分类和测试参数的个数设定，将FT测试分为OpenShort测试项、静态电流测试项、输出高低驱动电流测试项、上下拉电流测试项、频率测试测试项、RAM测试项、TMR测试项和基准电压修调测试项。

根据上述技术方案，所述S2中，创建工程名时，设置工程名称和被测试芯片名称，然后根据DUT载板定义引脚和板卡通道的关系，使引脚定义与实物保持一致，并根据使用需要定义引脚组，利用引脚组代替一堆引脚；

根据芯片设计商和封测厂编写的pattern文件进行编译，编译时需要将文件转换为板卡能够识别的格式后进行。

根据上述技术方案，在设置测试项和测试参数时，将测试范大体分成了8个测试项，包括接触测试，静态电流测试，输出高、低驱动电流测试，上、下拉电流测试，评率测0、1、2、4，功能测试-ram，功能测试-timer，ADC_2、3、4V基准电压修调，并对测试项进行命名，命名后配置每个测试项的动作，测试项设置完成后，设置每个测试项中模拟量和逻辑量的参数进行设置，并设置限定范围和单位；

设置系统参数时，在SAVE界面设置路径和格式，点击APPLY即可。

根据上述技术方案，所述S3中，打开测试工程，测试项自动生成了函数，在测试函数内调用API实现功能，对相应功能的函数体编写代码；