[发明专利]一种功率半导体特性参数测试系统在审
| 申请号： | 202110202946.6 | 申请日： | 2021-02-23 |
| 公开（公告）号： | CN112986782A | 公开（公告）日： | 2021-06-18 |
| 发明（设计）人： | 王异凡;龚金龙;杨青;刘黎;王一帆;孙明;林氦;邓志江;曾振源;张斌;陈少华;宋琦华;周迅;张显堡;黄继来 | 申请（专利权）人： | 国网浙江省电力有限公司电力科学研究院;浙江大学绍兴微电子研究中心;国网浙江桐乡市供电有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 浙江翔隆专利事务所(普通合伙) 33206 | 代理人： | 张建青 |
| 地址： | 310014 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及功率半导体特性参数测试技术领域，提供了一种功率半导体特性参数测试系统，包括低压仪表设备单元、低压控制单元、高压仪表设备单元、高压控制单元、器件适配单元和测试主控单元；低压控制单元包括低压项目相关部件和继电器组；继电器组分别设于低压项目相关部件、低压仪表设备单元和待测功率器件之间并根据不同类型的低压参数测试项目预设对应的导通状态；继电器组按照预设导通状态使低压项目相关部件、低压仪表设备单元和待测功率器件之间切换连接状态以形成与测试项目对应的测试电路；将低压测试项目的测试电路整合到一起，通过继电器组，可以更改测试连接方式，自动实现不同测试项目的切换。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 功率 半导体 特性 参数 测试 系统 | ||
【主权项】：
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