[发明专利]功率半导体装置在审

专利信息
申请号: 202011071299.1 申请日: 2020-10-09
公开(公告)号: CN112164720A 公开(公告)日: 2021-01-01
发明(设计)人: 杨信佳 申请(专利权)人: 杨信佳
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06;H01L29/423
代理公司: 北京高沃律师事务所 11569 代理人: 崔玥
地址: 中国台湾新*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明提供的一种功率半导体装置,其包含N型半导体层、P型井区、N型重掺杂区、绝缘层与闸极层。P型井区设于N型半导体层中,P型井区围绕N型半导体层的C字形N型区域。N型重掺杂区设于P型井区中,N型重掺杂区围绕C字形N型区域。绝缘层设于N型半导体层上,并覆盖部分的P型井区、部分的N型重掺杂区与C字形N型区域。闸极层设于绝缘层上,闸极层的形状与C字形N型区域相同。本发明通过增加电流通过的截面积与闸极层的周长,以降低热能产生机率。
搜索关键词: 功率 半导体 装置
【主权项】:
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