[发明专利]一种各阶磁梯度张量仪的统一校正方法有效
| 申请号： | 202010181000.1 | 申请日： | 2020-03-16 |
| 公开（公告）号： | CN111239667B | 公开（公告）日： | 2021-07-30 |
| 发明（设计）人： | 随阳轶;王梓骁;刘珂;刘世斌;张明维;程浩;王康 | 申请（专利权）人： | 吉林大学 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 长春吉大专利代理有限责任公司 22201 | 代理人： | 张岩;王立文 |
| 地址： | 130012 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种各阶磁梯度张量仪的统一校正方法，包括建立各阶磁梯度张量仪的统一校正框架，获取各阶磁梯度张量旋转校正数据，将张量不变量作为约束准则，采用LM算法求解最优的校正参数，对测线上的数据进行校正，鲁棒性研究证明校正方法的准确性；该方法以磁梯度张量整体为核心，使用9个校正参数对其进行1‑模式积运算，将各阶张量不变量的旋转不变特性作为约束准则，采用LM算法求解最优的校正参数，最终完成各阶磁梯度张量仪的校正。本校正方法还独立于各种磁梯度张量的测量原理，具有广泛的应用范围。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 各阶磁 梯度 量仪 统一 校正 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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