[发明专利]一种各阶磁梯度张量仪的统一校正方法有效
申请号: | 202010181000.1 | 申请日: | 2020-03-16 |
公开(公告)号: | CN111239667B | 公开(公告)日: | 2021-07-30 |
发明(设计)人: | 随阳轶;王梓骁;刘珂;刘世斌;张明维;程浩;王康 | 申请(专利权)人: | 吉林大学 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00 |
代理公司: | 长春吉大专利代理有限责任公司 22201 | 代理人: | 张岩;王立文 |
地址: | 130012 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 各阶磁 梯度 量仪 统一 校正 方法 | ||
1.一种各阶磁梯度张量仪的统一校正方法,其特征在于,包括以下步骤:
A、建立各阶磁梯度张量仪的统一校正模型框架
A1、n阶磁梯度张量分量的独立量的测量值Tuv…n,其中,u,v,…,n=x,y,and z:
其中,p包含标度因子误差、非正交误差和非对准误差;
A2、根据各阶磁梯度张量对称且无迹的特性,将各阶磁梯度张量分量独立量恢复为张量整体表达,并将其沿水平方向展开,进行张量的1-模式积运算,得到各阶磁梯度张量仪整体的张量误差模型为:
二阶磁梯度张量的误差模型:
三阶磁梯度张量的误差模型:
四阶磁梯度张量的误差模型:
n阶磁梯度张量的误差模型:
其中,A为含有9个参数的误差矩阵,误差参数包含了非正交误差、非对准误差和标度因子误差的影响;
其中,是矩阵Kronecker(克罗内克积)运算,其结果是9行和9列的方阵;
其中,是n阶磁梯度张量真实值沿水平方向的展开,共有3n个分量;
A3、根据误差模型得到各阶磁梯度张量仪的统一校正模型为:
二阶磁梯度张量的校正模型:
三阶磁梯度张量的校正模型:
四阶磁梯度张量的校正模型:
n阶磁梯度张量的校正模型:
其中,B=A-1,是包含9个参数的校正矩阵;
B、获取各阶磁梯度张量旋转校正数据
进行野外试验,将磁偶极子作为磁源,使各阶磁梯度张量仪围绕磁源进行均匀旋转移动,采集不同姿态下的磁场测量数据;
C、将张量不变量作为约束准则,采用LM算法求解最优的校正参数;
D、进行测线数据测量;
E、利用步骤C中得到的校正参数对测线上的数据进行校正,得到校正后的张量值;
F、校正方法鲁棒性:设计1,000次随机试验,根据实际情况设定仿真中各个误差的范围,最后形成校正前后张量相对误差的均方根误差图。
2.根据权利要求1所述的一种各阶磁梯度张量仪的统一校正方法,其特征在于:
步骤D,进行三阶磁梯度张量仪仿真时,测量目标是磁矩矢量为(250,000,250,000,-353,553.39)A·m2的磁偶极子,将它放入地下5米,测线在磁偶极子正上方15米处,测线的长度是100米,测线上均匀设置了500个采样点;通过公式(24)计算磁源在某一具体位置形成的三阶磁梯度张量独立分量,得到测线上的真实数据,测量值由真实数据附加误差系数得到;
其中,μ0是真空中磁导率,r是方向向量,M是磁偶极子磁矩,δij是克罗内克δ,i,j,k=1,2,3表示笛卡尔坐标系下的x,y,z。
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