[发明专利]一种尺寸测量方法、装置及系统在审
申请号: | 201710557586.5 | 申请日: | 2017-07-10 |
公开(公告)号: | CN107218891A | 公开(公告)日: | 2017-09-29 |
发明(设计)人: | 朱岩 | 申请(专利权)人: | 北京星闪世图科技有限公司 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司11250 | 代理人: | 陈博旸 |
地址: | 100085 北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明实施例提供了一种尺寸测量方法、装置及系统,其中该方法包括如下步骤接收包含待测物体的第一图像,该第一图像中包含两个平行激光发射器向待测物体投射的激光的光斑;获取两个平行激光发射器机芯之间的距离,获取该光斑在该第一图像上的第一像素距离、待测物体在该第一图像上的第二像素距离、以及拍摄该第一图像时的第一焦距;根据两个平行激光发射器机芯之间的距离、第一像素距离、第二像素距离及第一焦距计算待测物体的实际大小。通过本实施例解决了现有技术中电力巡检测量误差较大且效率较低的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 尺寸 测量方法 装置 系统 | ||
【主权项】:
一种尺寸测量方法,其特征在于,包括如下步骤:接收包含待测物体的第一图像,所述第一图像中包含两个平行激光发射器向所述待测物体投射的激光的光斑;获取所述两个平行激光发射器机芯之间的距离,获取所述光斑在所述第一图像上的第一像素距离、所述待测物体在所述第一图像上的第二像素距离、以及拍摄所述第一图像时的第一焦距;根据所述两个平行激光发射器机芯之间的距离、所述第一像素距离、所述第二像素距离及所述第一焦距计算所述待测物体的实际大小。
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