[发明专利]尺寸测量装置、尺寸测量方法、尺寸测量系统和程序有效

专利信息
申请号: 201480054427.8 申请日: 2014-09-26
公开(公告)号: CN105593637B 公开(公告)日: 2018-06-12
发明(设计)人: 山本治美;直原肇 申请(专利权)人: 松下知识产权经营株式会社
主分类号: G01B11/03 分类号: G01B11/03;G06T1/00
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明要解决使得能够生成对象物的精确的尺寸图的问题。根据本发明的尺寸测量装置(10)包括:获得部(11),其被配置为从用于进行对象物(20)的三维测量的测量装置(30)获得所述对象物(20)的三维的坐标值;面提取部(12),其被配置为基于所述坐标值来确定所述对象物(20)包括的关注面(21),并且提取所述关注面(21)的边界线的位置;区域提取部(13),其被配置为提取包围与附设至所述关注面(21)的特定物体(22)相对应的候选区域(23)的边缘的位置;以及尺寸生成部(14),其被配置为根据所述边界线的位置和所述边缘的位置来生成创建所述对象物(20)的尺寸图所需的尺寸数据。
搜索关键词: 对象物 尺寸测量装置 配置 边界线 尺寸测量系统 区域提取部 测量装置 尺寸测量 尺寸数据 候选区域 三维测量 生成对象 获得部 面提取 附设 三维 包围 创建
【主权项】:
一种尺寸测量装置,包括:获得部,其被配置为从用于进行对象物的三维测量的测量装置获得所述对象物的三维的坐标值;面提取部,其被配置为基于所述坐标值来确定所述对象物包括的关注面,以及提取所述关注面的边界线的位置;区域提取部,其被配置为提取包围候选区域的边缘的位置,所述候选区域为与物体相对应的区域,其中所述物体为附设至所述关注面的特定物体;以及尺寸生成部,其被配置为根据所述边界线的位置和所述边缘的位置来生成创建所述对象物的尺寸图所需的尺寸数据。
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