[发明专利]具有提高的滤波性能的用于电子设备的测试装置的探针卡有效
| 申请号： | 201680020499.X | 申请日： | 2016-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN107533085B | 公开（公告）日： | 2020-10-16 |
| 发明（设计）人： | F·马焦尼 | 申请（专利权）人： | 泰克诺探头公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市铸成律师事务所 11313 | 代理人： | 张臻贤;李够生 |
| 地址： | 意大利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 描述了一种用于电子设备的测试装置的探针卡。所述探针卡包括容纳多个接触探针的至少一个测试头，每个接触探针具有至少一个接触尖端，至少一个接触尖端适于贴靠在正在测试的设备的接触焊盘上；并且所述探针卡还包括至少一个空间转换器，所述空间转换器适于对形成在其相对侧上并且借助于适当的导电迹线或平面连接的接触焊盘之间的距离提供空间转换；以及多个滤波电容器，所述多个滤波电容器设置在所述空间转换器和PCB之间，并且所述滤波电容器包括本体和被布置在所述本体的侧部的导电部分，所述导电部分接触所述导电迹线或平面。适当地，所述PCB包括电接触所述滤波电容器的导电部分的直接导电迹线或平面。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 提高 滤波 性能 用于 电子设备 测试 装置 探针 | ||
【主权项】：
一种用于电子设备的测试装置的探针卡(20)，所述探针卡(20)包括：至少一个测试头(21)，所述至少一个测试头(21)容纳多个接触探针(22)，每个接触探针(22)具有至少一个接触尖端(22A)，所述至少一个接触尖端(22A)适于贴靠在正在测试的设备的接触焊盘上；至少一个空间转换器(24)，所述至少一个空间转换器(24)适于对在其相对侧形成并且借助于适当的导电迹线或平面(26)连接的接触焊盘(24A、24B)之间的距离提供空间转换；以及多个滤波电容器(29)，所述滤波电容器(29)设置在所述空间转换器(24)和PCB(25)之间，所述滤波电容器(29)包括本体(29c)和被布置在所述本体(29c)的侧部处的导电部分(29r)，所述导电部分(29r)接触所述导电迹线或平面(26)，其特征在于，所述PCB(25)包括电接触所述滤波电容器(29)的所述导电部分(29r)的导电迹线或平面(28’)。
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