[实用新型]一种提高磁光克尔效应实验精度的调节装置有效

专利信息
申请号: 201520987115.4 申请日: 2015-12-02
公开(公告)号: CN205280568U 公开(公告)日: 2016-06-01
发明(设计)人: 王春梅;李赫;傅方杰;阮建中;沈国土 申请(专利权)人: 华东师范大学
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01
代理公司: 上海麦其知识产权代理事务所(普通合伙) 31257 代理人: 董红曼
地址: 200062 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型公开了一种提高磁光克尔效应实验精度的调节装置,其由导轨、平衡调节孔和水准仪组成;导轨的长度应能容纳实验所放置的若干个光具座,并满足一定的光路间距需要;导轨顶部凸起部分与实验用光具座匹配,所有光具座螺丝拧紧后,其中轴线处于同一直线;导轨远端的两个平衡调节孔放置平衡调节螺丝,通过调节两个平衡调节螺丝,可以调节导轨的水平;导轨近端有高度可调支撑件,配合远端两个平衡调节螺丝,可改变导轨高度;导轨近端切割为弧形,曲率半径为15cm,与磁光克尔效应实验主装置底座完全吻合,保证调节两导轨张角的同时,光路始终通过待测样品中央。本实用新型可简化磁光克尔效应实验的调节过程,并能提高实验精度。
搜索关键词: 一种 提高 克尔 效应 实验 精度 调节 装置
【主权项】:
一种提高磁光克尔效应实验精度的调节装置,其特征在于,包括:导轨(1)、平衡调节孔(2)和水准仪(3);其中,所述导轨(1)为长方体,其两短边分别为远端和近端;所述导轨(1)的上表面设置有凸起(11);所述平衡调节孔(2)设置在所述导轨(1)的长边两侧,其用于放置平衡调节螺丝(21);所述水准仪(3)设置在所述导轨(1)的远端。
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