[实用新型]一种提高磁光克尔效应实验精度的调节装置有效
| 申请号： | 201520987115.4 | 申请日： | 2015-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN205280568U | 公开（公告）日： | 2016-06-01 |
| 发明（设计）人： | 王春梅;李赫;傅方杰;阮建中;沈国土 | 申请（专利权）人： | 华东师范大学 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01 |
| 代理公司： | 上海麦其知识产权代理事务所(普通合伙) 31257 | 代理人： | 董红曼 |
| 地址： | 200062 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 提高 克尔 效应 实验 精度 调节 装置 | ||
1.一种提高磁光克尔效应实验精度的调节装置，其特征在于，包括：导轨(1)、平衡调 节孔(2)和水准仪(3)；其中，
所述导轨(1)为长方体，其两短边分别为远端和近端；
所述导轨(1)的上表面设置有凸起(11)；
所述平衡调节孔(2)设置在所述导轨(1)的长边两侧，其用于放置平衡调节螺丝(21)；
所述水准仪(3)设置在所述导轨(1)的远端。
2.如权利要求1所述的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置，其特征在于，所述水准 仪(3)包括横向水准仪(31)和纵向水准仪(32)。
3.如权利要求1所述的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置，其特征在于，所述导轨 (1)的底部设置有高度调节件(4)。
4.如权利要求3所述的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置，其特征在于，所述高度 调节件(4)设置在所述导轨(1)的近端。
5.如权利要求1所述的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置，其特征在于，所述导轨(1) 的近端短边为弧形，曲率半径为15cm。
6.如权利要求1所述的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置，其特征在于，所述导轨 (1)的长度为75cm。
7.如权利要求1所述的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置，其特征在于，所述导轨 (1)的宽度为12cm。
8.如权利要求1所述的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置，其特征在于，所述平衡 调节螺丝(21)为尖脚螺丝。
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