[实用新型]一种提高磁光克尔效应实验精度的调节装置有效

专利信息
申请号: 201520987115.4 申请日: 2015-12-02
公开(公告)号: CN205280568U 公开(公告)日: 2016-06-01
发明(设计)人: 王春梅;李赫;傅方杰;阮建中;沈国土 申请(专利权)人: 华东师范大学
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01
代理公司: 上海麦其知识产权代理事务所(普通合伙) 31257 代理人: 董红曼
地址: 200062 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 提高 克尔 效应 实验 精度 调节 装置
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种磁光克尔效应实验设备,尤其涉及一种提高磁光克尔效应实验精度的 调节装置。

背景技术

目前,国内对磁光克尔的研究主要集中在磁光记录及生物物理方面,在近年来吸引越来 越多人的关注。目前实验室的磁光克尔实验设备只能对标配的铁镍合金样品进行测试,实验 装置调节过程繁琐,且难以达到准直状态,测量结果精度不高。

因此,现在市场上亟需设计一种新的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置。

实用新型内容

为了克服现有技术的上述不足,本实用新型提出了一种提高磁光克尔效应实验精度的调 节装置,该装置可简化磁光克尔效应实验的调节过程,并能提高实验精度。

本实用新型提出的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置,包括:导轨、平衡调节孔和水 准仪;其中,所述导轨为长方体,其两短边分别为远端和近端;所述导轨的上表面设置有凸起; 所述平衡调节孔设置在所述导轨的长边两侧,其用于放置平衡调节螺丝;所述水准仪设置在所 述导轨的远端。

本实用新型提出的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置中,所述水准仪包括横向水准仪 和纵向水准仪。

本实用新型提出的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置中,所述导轨的底部设置有高度 调节件。

本实用新型提出的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置中,所述高度调节件设置在所述 导轨的近端。

本实用新型提出的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置中,所述导轨的近端短边为弧形, 曲率半径为15cm。

本实用新型提出的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置中,所述导轨的长度为75cm。

本实用新型提出的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置中,所述导轨的宽度为12cm。

本实用新型提出的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置中,所述平衡调节螺丝为尖脚螺 丝。

本实用新型提出的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置,通过调节平衡调节螺丝,辅 以观察所述纵、横两个水准仪,可快速将所述长直导轨调至平衡。

本实用新型提出的提高磁光克尔效应实验精度的调节装置,导轨近端切割为圆弧状,曲 率半径为15cm,保证能与磁光克尔效应实验主装置底座完全吻合,使得调节两根导轨张角的 同时,光路始终通过实验样品中央。

本实用新型的有益效果在于:本实用新型可使调节实验光路准直的过程快速、便捷,实 验过程中光路更加稳定,不易受外界干扰,能提高实验稳定性。同时精度提高,改进后的磁 光克尔效应实验装置可用于非标准样品的测量,得到较理想的实验数据。

附图说明

图1为本实用新型提高磁光克尔效应实验精度的调节装置的结构示意图。

图2为本实用新型提高磁光克尔效应实验精度的调节装置的正视图。

图3为本实用新型中导轨的弧形端放大图。

图4为本实用新型中平衡调节螺丝与导轨连接装置示意图。

图5为本实用新型中平衡调节螺丝的放大图。

具体实施方式

结合以下具体实施例和附图,对发明作进一步的详细说明。实施本发明的过程、条件、实 验方法等,除以下专门提及的内容之外,均为本领域的普遍知识和公知常识,本发明没有特别 限制内容。

如图1和图5所示,本实用新型提出了一种提高磁光克尔效应实验精度的调节装置,包 括:导轨1、平衡调节孔2和水准仪3。

其中,导轨1为长方体,其两短边分别为远端和近端。导轨1的上表面设置有凸起11, 凸起部分与实验所配光具座匹配,所有光具座螺丝拧紧后,其中轴线处于同一直线。平衡调 节孔2设置在导轨1的长边两侧,其用于放置平衡调节螺丝21。水准仪3设置在导轨1的远 端。

本实用新型中,水准仪3包括横向水准仪31和纵向水准仪32。

本实用新型中,导轨1的底部设置有高度调节件4。

本实用新型中,高度调节件4设置在导轨1的近端。

本实用新型中,导轨1的近端短边为弧形,曲率半径为15cm。

本实用新型中,导轨1的长度为75cm,能容下实验所放置的若干个光具座,并满足一定 的光路间距需要。

本实用新型中,导轨1的宽度为12cm。

本实用新型中,平衡调节螺丝21为尖脚螺丝。

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