[发明专利]提高光模块调试与检测速度的测试系统及方法有效
| 申请号： | 201110104045.X | 申请日： | 2011-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN102185648A | 公开（公告）日： | 2011-09-14 |
| 发明（设计）人： | 许建锐;罗建刚 | 申请（专利权）人： | 深圳市共进电子有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/08 | 分类号： | H04B10/08;H04B10/14 |
| 代理公司： | 深圳市智科友专利商标事务所 44241 | 代理人： | 陈润生 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 提高光模块调试与检测速度的测试系统及方法，为了改变现有技术中只能测试完一个光模块后再检测下一个光模块的效率低下的工作模式，以解决调试与测试不能同时进行而导致测试进度迟缓的技术难题，所述的光模块的数量设置至少两个，并在测试系统的MCU与光模块之间的电路中增设联动开关切换电路，MCU发送控制信号至联动开关切换电路的受控端，联动开关切换电路中的一路切换开关将MCU发来的调试信号输送至光模块组的调试接口，另一路切换开关将检测设备发来的检测信号输送至光模块组的检测接口。本发明的优点是生产效率提高了30%，取得了明显的经济效益，有很高的实用价值。 | ||
| 搜索关键词： | 提高 模块 调试 检测 速度 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
提高光模块调试与检测速度的测试系统，结构中包括运行上层测试程序的计算机（1）、存储有测试板控制程序的MCU、具有调试接口与检测接口的光模块、以及与光模块连接的检测设备（6），MCU和光模块定位在测试板（3）上，其特征在于：所述的光模块的数量设置至少两个，并在测试系统的MCU与光模块之间的电路中增设联动开关切换电路（2），MCU发送控制信号至联动开关切换电路（2）的受控端，联动开关切换电路（2）中的一路切换开关将MCU发来的调试信号输送至光模块组的调试接口，另一路切换开关将检测设备（6）发来的检测信号输送至光模块组的检测接口。
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