[发明专利]提高光模块调试与检测速度的测试系统及方法

权利要求书

1.提高光模块调试与检测速度的测试系统，结构中包括运行上层测试程序的计算机（1）、存储有测试板控制程序的MCU、具有调试接口与检测接口的光模块、以及与光模块连接的检测设备（6），MCU和光模块定位在测试板（3）上，其特征在于：所述的光模块的数量设置至少两个，并在测试系统的MCU与光模块之间的电路中增设联动开关切换电路（2），MCU发送控制信号至联动开关切换电路（2）的受控端，联动开关切换电路（2）中的一路切换开关将MCU发来的调试信号输送至光模块组的调试接口，另一路切换开关将检测设备（6）发来的检测信号输送至光模块组的检测接口。

2.根据权利要求1所述的提高光模块调试与检测速度的测试系统，其特征在于：所述的检测设备（6）包括误码仪、示波器、光功率计和衰减器。

3.根据权利要求1所述的提高光模块调试与检测速度的测试系统，其特征在于：所述的光模块借助固定座定位在测试板（3）上。

4.根据权利要求1所述的提高光模块调试与检测速度的测试系统，其特征在于：所述的光模块的数量为2个。

5.一种与权利要求1所述的测试系统配套进行测试的方法，借助联动开关切换电路（2）实现光模块组之间的测试工作状态的切换，其特征在于：所述的方法具体步骤是：

a、安装第一光模块（4），并做好调试前准备动作；

b、计算机（1）对MCU输入指令，控制联动开关切换电路（2）将第一光模块（4）的调试接口与MCU连接，检测接口与检测设备（6）连接，

对第一光模块（4）进行调试与检测并行处理过程；

c、在第一光模块（4）进行调试与检测时，安装下一光模块（5），并做好调试前准备动作；

d、当第一光模块（4）测试完毕后，计算机（1）对MCU输入切换指令，控制联动开关切换电路（2）将下一光模块（5）的调试接口与MCU连接，检测接口与检测设备（6）连接，对下一光模块（5）进行调试与检测并行处理过程；

e、重复步骤c、d，直至完成所有光模块的测试。