[发明专利]提高光模块调试与检测速度的测试系统及方法

说明书

技术领域

本发明涉及到光网络单元中光模块的测试技术领域，包括对EPON、GPON光模块性能参数调试及检测，是一种可大大提高调试和检测速率的测试系统。

背景技术

在FTTX日益普及的今天，对PON模块的需求量也出现高速的增长，因此如何满足产能的要求而且保证产品质量的问题就摆在了大家面前：在不增加产品测试仪器设备情况下，减少产品测试环节时间，提高产品测试效率，降低单位产品的测试成本。

对于PON 光模块产品，主要分为调试和检测。现有技术中一般采用计算机借助串行接口与测试板上的MCU进行通讯，MCU再对测试板上的光模块进行调试与检测，而光模块的数量一般也只是一个。在这样的结构下，要对一个光模块进行测试，首先下载产品固件，进行性能参数调试和标定，然后再通过测试设备对产品性能参数进行测试，产品性能参数分为发射TX和接收RX两部分，产品发射和接收为双工的工作方式。传统的光模块测试系统只能进行一个产品的测试，测试完一个光模块后，再将下一个光模块安装在测试板上，再通过计算机对MCU的控制进行调控、以及通过测试设备对光模块进行测试。

发明内容

本发明的目的是为了改变现有技术中只能调试完一个光模块后再检测下一光模块的效率低下的工作模式，以解决调试与测试不能同时进行而导致测试进度迟缓的技术难题，在测试板上设置至少两个光模块固定座，再借助联动开关切换电路模块对光模块的调试检测状态进行切换，实现一个光模块同时进行调试和检测，另一个光模块进行调试检测前的安装和准备动作。

本发明为实现发明目的采用的技术方案是，提高光模块调试与检测速度的测试系统，结构中包括运行上层测试程序的计算机、存储有测试板控制程序的MCU、具有调试接口与检测接口的光模块、以及与光模块连接的检测设备，MCU和光模块定位在测试板上，关键是：所述的光模块的数量设置至少两个，并在测试系统的MCU与光模块之间的电路中增设联动开关切换电路，MCU发送控制信号至联动开关切换电路的受控端，联动开关切换电路中的一路切换开关将MCU发来的调试信号输送至光模块组的调试接口，另一路切换开关将检测设备发来的检测信号输送至光模块组的检测接口。

本发明还涉及到一种与上述测试系统配套进行测试的方法，借助联动开关切换电路实现光模块组之间的测试工作状态的切换，关键是：所述的方法具体步骤是：

a、安装第一光模块，并做好调试前准备动作；

b、计算机对MCU输入指令，控制联动开关切换电路将第一光模块的调试接口与MCU连接，检测接口与检测设备连接，对第一光模块进行调试

与检测并行处理过程；

c、在第一光模块进行调试与检测时，安装下一光模块，并做好调试前准备动作；

d、当第一光模块测试完毕后，计算机对MCU输入切换指令，控制联动开关切换电路将下一光模块的调试接口与MCU连接，检测接口与检测设备连接，对下一光模块进行调试与检测并行处理过程；

e、重复步骤c、d，直至完成所有光模块的测试。

以上技术内容的原理是：现有技术由于在测试板上只设置一个光模块固定座，因此只能一个光模块经过调试前准备、调试、测试的过程完成测试后，再进行下一个光模块的测试，调试前准备工作消耗时间较短，但是调试与检测的过程时间比较长，而且调试和检测必须得依次进行，浪费了大量的时间，本发明的方案是设置了两个光模块，调试信号与检测信号通过开关切换电路来实现光模块测试状态的转换，这样就可以使至两个光模块同时进行，一个进行调试和检测的并行处理，另外一个模块进行调试检测前的准备动作并安装到测试板上，模块调试检测完后立刻对已准备好的模块的进行调试检测，然后将调试检测完成的光模块从测试板上卸下，换上另一个光模块，这样流水切换工作状态，保证调试和测试过程循环进行，大大提高了工作效率，在大批量生产与测试的过程中具有显著的进步意义。

下面结合附图对本发明进行详细说明。

附图说明

图1是本发明的测试系统的结构示意图。

附图中，1是计算机，2是联动开关切换电路，3是测试板，4是第一

光模块，5是下一光模块，6是检测设备。

具体实施方式