[发明专利]一种提高相干梯度敏感测量精度的方法

摘要

本发明是一种提高相干梯度敏感测量精度的方法。本方法是利用已有相干梯度敏感方法光路分别拍摄同一试件在三个不同载荷P₁、P₂、P₃下的三幅相干梯度敏感干涉条纹图，拍摄得到的第一幅、第二幅和第三幅干涉条纹图的光强分别为：I₁、I₂、I₃；根据上述载荷和光强，通过求解方程组精确获得三幅干涉条纹图上任意相同位置点的条纹级数m₁、m₂和m₃；根据精确的条纹级数，可以计算得到相应载荷下精度满足要求的力学参量。本发明方法的优点是：能够非常明显的提高相干梯度敏感方法的测量精度，尤其是对于低级数条纹点的计算结果；方法简单，不需要已有技术以外的光学装置；不需要拍摄试件加载前的图像；不需要对实验图像进行图像处理，避免了额外误差的引入；可与同次实验中其它两个任意载荷的条纹图进行相应处理精确提取条纹级数。

主权项

1、一种提高相干梯度敏感测量精度的方法，其特征在于该方法包括以下各步骤：(1)利用已有相干梯度敏感方法光路分别拍摄同一试件在载荷P1、P2、P3下的三幅相干梯度敏感干涉条纹图，拍摄得到的第一幅、第二幅和第三幅干涉条纹图的光强分别为：I1、I2、I3；(2)根据上述载荷和光强，可以得出方程组：$\begin{array}{c}{I}_1=a+b\cos 2\pi ·m_1\\ I_2=a+b\cos 2\pi ·m_1\frac{P_2}{P_1}\\ I_3=a+b\cos 2\pi ·m_1\frac{P_3}{P_1}\end{array},其中a为干涉条纹图的背景光强，b代表条纹振幅，通过求解这三个方程，就可以精确获得第一幅干涉条纹图上任意一点的条纹级数m1；(3)第二幅干涉条纹图上位置相同点的条纹级数m2为：$ m_2=\frac{m_1{P}_2}{P_1};第三幅干涉条纹图上位置相同点的条纹级数m3为：$ m_3=\frac{m_1{P}_3}{P_1};(4)根据精确的条纹级数m1、m2和m3，可以计算获得相应载荷下精度能够满足要求的力学参量。$$$