[发明专利]一种提高相干梯度敏感测量精度的方法无效
| 申请号： | 200810058712.3 | 申请日： | 2008-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN101320003A | 公开（公告）日： | 2008-12-10 |
| 发明（设计）人： | 许蔚;张亚萍 | 申请（专利权）人： | 昆明理工大学 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01B11/16 |
| 代理公司： | 昆明正原专利代理有限责任公司 | 代理人： | 金耀生 |
| 地址： | 650093云南*** | 国省代码： | 云南;53 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 提高 相干 梯度 敏感 测量 精度 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种提高相干梯度敏感测量精度的方法，其特征在于该方法包括以下各步骤：
(1)利用已有相干梯度敏感方法光路分别拍摄同一试件在载荷P1、P2、P3下的三幅相干梯度敏感干涉条纹图，拍摄得到的第一幅、第二幅和第三幅干涉条纹图的光强分别为：I1、I2、I3；
(2)根据上述载荷和光强，可以得出方程组：其中a为干涉条纹图的背景光强，b代表条纹振幅，通过求解这三个方程，就可以精确获得第一幅干涉条纹图上任意一点的条纹级数m1；
(3)第二幅干涉条纹图上位置相同点的条纹级数m2为：第三幅干涉条纹图上位置相同点的条纹级数m3为：
(4)根据精确的条纹级数m1、m2和m3，可以计算获得相应载荷P1、P2、P3下精度能够满足要求的应力强度因子。
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