[实用新型]超大芯片高功率多引脚半导体元器件封装装置有效
| 申请号: | 202320653400.7 | 申请日: | 2023-03-29 |
| 公开(公告)号: | CN219575575U | 公开(公告)日: | 2023-08-22 |
| 发明(设计)人: | 宋岩 | 申请(专利权)人: | 大连泰一半导体设备有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/56 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 116600 辽宁省大连市经*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 超大 芯片 功率 引脚 半导体 元器件 封装 装置 | ||
本实用新型公开了超大芯片高功率多引脚半导体元器件封装装置,具体涉及半导体封装领域,包括封装模块,所述封装模块顶部开设有两组型腔,两组所述型腔之间连通设有串联流道;所述型腔中部设有矫正弧面,所述矫正弧面设置为超大球面的矩形栽切体,所述型腔两侧与封装模块之间均匀开设有多个排气槽,对封装产品形变进行矫正补偿。本实用新型通过设有封装模块组合体使得可封装超大芯片高功率多引脚半导体元器件,摆脱了的以往封装模块很难对应超大芯片尺寸的封装,产生的产品收缩变形大内部产生的分层,内部气孔,脱模不畅等,导致产品不良。
技术领域
本实用新型涉及半导体封装技术领域,更具体地说,本实用涉及超大芯片高功率多引脚半导体元器件封装装置。
背景技术
超大芯片高功率多引脚半导体元器件是一种先进的IGBT器件,在不同的功率以及频率范围中,对器件的特性要求有所不同。在大功率的应用场景中,例如轨道交通、直流输电,此时器件的开关频率非常低,开关损耗导致的发热量较低,主要以导通损耗为主。而在设备功率较小的时候,例如白色家电、伺服电机等领域,工作频率较高,导通损耗占比较低,开关损耗产生的热量较大。因此,在实际的工作时,需要根据应用要求,进行折中优化设计,才能使系统的效率达到最大化。
现在,大电流高电压的IGBT已模块化,它的驱动电路除上面介绍的由分立元件构成之外,现在已制造出集成化的IGBT专用驱动电路.其性能更好,整机的可靠性更高。IGBT功率模块采用IC驱动,各种驱动保护电路,高性能IGBT芯片,新型封装技术,从复合功率模块现已开发成功第二代IPEM,其中所有的无源元件以埋层方式掩埋在衬底中。智能化、模块化成为IGBT发展热门。
国内市场需求急剧上升曾使得IGBT市场一度被看好。虽然长期来看,IGBT是一个值得期待的市场,但目前为止IGBT的核心技术和产业为大多数欧美IDM半导体厂商所掌控,中国在2014年6月成功研制出8寸IGBT专业芯片,打破国际垄断。
2017-2022 年全球 IGBT 市场规模 CAGR 达 7.04%,中国市场主要应 用包括新能源汽车、工控、消费电子。受益于工业控制及电源行业市场的 逐步回暖,以及下游的变频家电、新能源汽车等领域的迅速发展,全球及 中国 IGBT 市场规模持续增长。
大芯片高功率IGBT器件的开发周期长,涉及到材料、芯片设计、芯片工艺、器件封装与测试各个环节,需要多学科交叉融合、多行业协同开发。
封装模块很难对应超大芯片尺寸的封装,产生的产品收缩变形大内部产生的分层,内部气孔,脱模不畅等,导致产品不良。
发明内容
为了克服现有技术的上述缺陷,本实用新型的实施例提供超大芯片高功率多引脚半导体元器件封装装置,以解决技术中的上述不足之处。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:超大芯片高功率多引脚半导体元器件封装装置,包括封装模块,还包括:
所述封装模块顶部开设有两组型腔,两组所述型腔之间连通设有串联流道;
所述型腔中部设有矫正弧面,所述矫正弧面设置为超大球面的矩形栽切体,所述型腔两侧与封装模块之间均匀开设有多个排气槽,对封装产品形变进行矫正补偿;
所述封装模块两端均设有镶嵌浇口,所述封装模块与镶嵌浇口连接处开设有嵌设槽,镶嵌浇口用于对型腔填充环氧树脂封装料;
所述封装模块底部设有多个顶出杆衬套,顶出杆衬套用于封装后的元器件脱模顶出,所述封装模块与顶出杆衬套连接处开设有衬套固定孔,所述封装模块底部横向开设有封装模块定位槽;
所述封装模块包括多组大小不同排气槽用于型腔内空气的排出,所述封装模块定位槽置于封装模块底部对其定位,可有效的对封装模块的工作位置进行固定与矫正。
在一个优选的实施方式中,所述型腔设置为尺寸相等的大尺寸腔体,所述串联流道深度小于型腔深度。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





