[实用新型]可多工位分类筛分的芯片封装检测装置有效
申请号: | 202222298003.0 | 申请日: | 2022-08-30 |
公开(公告)号: | CN218531877U | 公开(公告)日: | 2023-02-28 |
发明(设计)人: | 詹骐泽;林河北;顾岚雁 | 申请(专利权)人: | 东莞市金誉半导体有限公司 |
主分类号: | B07C5/10 | 分类号: | B07C5/10;B07C5/34;B07C5/02;B08B5/02;B08B13/00 |
代理公司: | 深圳市鼎泰正和知识产权代理事务所(普通合伙) 44555 | 代理人: | 缪太清 |
地址: | 523129 广东省东莞市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 可多工位 分类 筛分 芯片 封装 检测 装置 | ||
本实用新型公开了可多工位分类筛分的芯片封装检测装置,涉及封装检测装置技术领域,为解决现有的芯片封装检测装置,在检测的过程中,其检测筛分组件单一,需要多次重复检测,降低检测效率的问题。本实用新型包括检测防护箱,检测防护箱的一端设有第一引导输送组件,第一引导输送组件的一侧设有第二引导输送组件,第一引导输送组件与第二引导输送组件的上方设有标码扫描组件,检测防护箱的上方设有形态扫描组件,形态扫描组件的一侧设有吹气组件,吹气组件的一侧设有套合检测组件,套合检测组件与吹气组件设有多个,套合检测组件与吹气组件交替设置,通过套合检测组件、形态扫描组件与吹气组件的相互配合,提升对封装芯片的检测效率。
技术领域
本实用新型涉及封装检测装置技术领域,具体为可多工位分类筛分的芯片封装检测装置。
背景技术
芯片封装技术就是将内存芯片包裹起来,以避免芯片与外界接触,防止外界对芯片的损害的一种工艺技术。空气中的杂质和不良气体,乃至水蒸气都会腐蚀芯片上的精密电路,进而造成电学性能下降。不同的封装技术在制造工序和工艺方面差异很大,封装后对内存芯片自身性能的发挥也起到至关重要的作用。
现有的芯片封装检测装置,在检测的过程中,其检测筛分组件单一,需要多次重复检测,降低检测效率;所以我们提出了可多工位分类筛分的芯片封装检测装置,以便于解决上述中提出的问题。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供可多工位分类筛分的芯片封装检测装置,以解决上述背景技术中提出的现有的芯片封装检测装置,在检测的过程中,其检测筛分组件单一,需要多次重复检测,降低检测效率的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:可多工位分类筛分的芯片封装检测装置,包括检测防护箱,检测防护箱的一端设有第一引导输送组件,第一引导输送组件的一侧设有第二引导输送组件,第一引导输送组件与第二引导输送组件的上方设有标码扫描组件,检测防护箱的上方设有形态扫描组件,形态扫描组件的一侧设有吹气组件,吹气组件的一侧设有套合检测组件,套合检测组件与吹气组件设有多个,套合检测组件与吹气组件交替设置。
通过先采用标码扫描组件,可以对封装芯片的标识进行检测,在通过套合检测组件内部的激光尺寸识别器,对封装芯片规格与尺寸进行检测,根据套合检测组件与吹气组件设有多个,套合检测组件与吹气组件交替设置,当封装芯片出现褶皱与灰尘的情况,通过吹气组件进行清理,吹气组件上设有激光定位器,多个吹气器与激光定位器交替设置,可以进行快速定位清理,由形态扫描组件上的视觉扫描器,形成对封装芯片整体扫描,形成二次检测,通过套合检测组件、形态扫描组件与吹气组件的相互配合,形成多工位的检测与分类方式,提升对封装芯片的检测效率。
进一步地,套合检测组件包括第一电动伸缩组件、伸缩套盘组件与激光尺寸识别器,伸缩套盘组件位于第一电动伸缩组件的一端,激光尺寸识别器位于伸缩套盘组件的内部,在通过套合检测组件内部的激光尺寸识别器,对封装芯片规格与尺寸进行检测。
进一步地,形态扫描组件包括第三电动伸缩组件、连接盘与视觉扫描器,连接盘与第三电动伸缩组件连接,视觉扫描器设有多个,多个视觉扫描器均布在连接盘上,由形态扫描组件上的视觉扫描器,形成对封装芯片整体扫描,形成二次检测。
进一步地,检测防护箱的上端设有检测环绕输送组件,第一引导输送组件与第二引导输送组件与检测环绕输送组件连通,检测环绕输送组件的内侧设有换气组件,换气组件设有多个,多个换气组件均布在检测环绕输送组件的内侧,设置的换气组件,可以对检测环绕输送组件进行清理,避免输送通道发生潮湿,提升通道的干燥性,保障检测效率。
进一步地,检测防护箱的外壁包覆有减震橡胶层,检测防护箱的下端设有支撑架,支撑架设有多个,多个支撑架均布在检测防护箱的下端,采用支撑架,可以支撑整体设置,增加稳定性。
进一步地,第一引导输送组件与第二引导输送组件的之间设有天线传输器,采用天线传输器,可以及时的传输信息。
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