[发明专利]一种用于车身尺寸测量的测量基准构建方法及系统

说明书

本发明公开了一种用于车身尺寸测量的测量基准构建方法，其包括步骤：100：将光学测量设备可识别的参考点群随机地粘贴在测量支架上的定位销附近，定位销用于支撑定位待测零件；200：在测量支架未放置待测零件的状态下，用光学测量设备获取目标点的第一空间位置信息和参考点群的第一空间位置信息，并由目标点的第一空间位置信息和参考点群的第一空间位置信息获得目标点和参考点群的相对位置信息；其中目标点为定位销中轴线与待测零件定位平面的交点；300：将待测零件放置于测量支架的定位销上，用光学测量设备获取测量支架后的参考点群的第二空间位置信息，并基于相对位置信息获取目标点的第二空间位置信息，并由第二空间位置信息构建测量基准坐标系。

技术领域

本发明涉及一种测量方法及系统，尤其涉及一种测量基准构建方法及系统。

背景技术

众所周知，在汽车生产制造过程中，车身及零部件的尺寸测量是重要的质量监控手段之一，而无论是测量尺寸较大的车身还是较小尺寸的冲压单件，在测量过程中都会涉及测量基准的建立。在建立测量基准时，测量基准的构建精度会直接反应到测量结果中，其影响的不仅仅是某个测值，而是基于整个基准评价的所有测值，所以测量基准构建及测量精度是整个测量环节重中之重。

在当前现有技术中，针对车身及相关冲压单件的测量，都是将被测零件放置于测量支架上进行测量，而测量基准是通过设于测量支架上的定位销进行定位完成构建的。

当前，获取测量基准系的方法主要有两种：直接获取法和间接获取法。

(a)直接获取法：直接获取法是指在被测零件没有放到测量支架前直接测量相关定位销的坐标值，用此坐标值建立基准系，然后将零件放置于支架上进行测量。此种方式适合于支架强度较好且零件重量较轻的情况下，即零件放置前后支架无形变的情况，但对于车身等较大较重零件，很难做到支架在负载情况下完全不发生形变，当放置较重零件后，会导致测量支架轻微变形，变形前后构建基准系会有差异，导致测量结果误差。

(b)间接获取法：间接获取法是指将零件放置支架后再进行基准的建立，即放置零件后，通过测量支架和被测零件上的特征组合测量构建车身坐标系，利用定位销获取基准点。此种方式建立的基准是支架已完成形变后建立的基准，所以能减少测量基准由于负重导致的位置变化而引进的累计误差。但此种方式的弊端是可达性不好，需要测量的坐标系构成点即定位销往往被零件遮挡，很多待测特征无法直接测量，无法完成基准点的构成。

基于此，针对以上现有技术中的问题，发明人采用了全新的设计思路，其期望通过点群的概念，间接的获取构成坐标系的基准点信息，从而完成基准系的构建，进而获得一种新的用于车身尺寸测量的测量基准构建方法及系统。

发明内容

本发明的目的之一在于提供一种用于车身尺寸测量的测量基准构建方法，该测量基准构建方法通过点群的概念，可以间接的获取构成坐标系的基准点信息，从而完成基准系的构建。

不同于现有技术，该测量基准构建方法便于实施，其可以快速、精确地构建测量基准系，可以有效确保尺寸测量的精度。采用该测量基准构建方法构建测量基准系的过程不会因零件遮挡所影响，且不会因零件过重而影响基准系精度不足，可以有效应用于现有车身尺寸测量过程中。

为了实现上述目的，本发明提出了一种用于车身尺寸测量的测量基准构建方法，其包括步骤：

100：将光学测量设备可识别的参考点群随机地粘贴在测量支架上的定位销的附近，其中所述定位销用于支撑定位待测零件；

200：在测量支架未放置待测零件的状态下，采用光学测量设备获取目标点的第一空间位置信息和参考点群的第一空间位置信息，并基于目标点的第一空间位置信息和参考点群的第一空间位置信息获得目标点和参考点群的相对位置信息；其中所述目标点为定位销中轴线与待测零件定位平面的交点；