[发明专利]PECVD提高氧化铝背膜钝化效果的制备方法在审

专利信息
申请号: 202110421693.1 申请日: 2021-04-20
公开(公告)号: CN113293358A 公开(公告)日: 2021-08-24
发明(设计)人: 蒋万昌;王森栋 申请(专利权)人: 山西潞安太阳能科技有限责任公司
主分类号: C23C16/40 分类号: C23C16/40;C23C16/30;C23C16/34;C23C16/50;H01L31/0216;H01L31/18
代理公司: 太原市科瑞达专利代理有限公司 14101 代理人: 李富元
地址: 046000 山*** 国省代码: 山西;14
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摘要:
搜索关键词: pecvd 提高 氧化铝 钝化 效果 制备 方法
【说明书】:

发明涉及太阳能电池生产领域。PECVD提高氧化铝背膜钝化效果的制备方法,在制绒、扩散、正激光、碱抛、后氧化的晶体硅片用管式PECVD沉积,PECVD沉积过程安如下步骤进行,步骤一、制备氧化铝膜;步骤二、进行第一次预清理;步骤三、制备氮氧化硅膜;步骤四、进行第二次预先清理;步骤五、制备氮化硅膜。在镀氮化硅膜和氮氧化硅膜前添加一次预清理,在每次镀膜前添加可以有效的减少镀膜过程中的污染,并生成更纯净的SiNx膜,SiOxNy膜,从而使开压得到很大提升。

技术领域

本发明涉及太阳能电池生产领域。

背景技术

PECVD氧化铝工艺是在硅片背表面镀上一层氧化铝及氮化硅薄膜,从而减少硅片杂质复合,提高电池片效率,并提高吸收太阳光,降低背表面反射,保护电池片不受污染。为了提高晶体硅太阳能电池的效率,通常需要对晶体硅表面进行钝化处理,以降低表面缺陷对于少数载流子的复合作用。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是:如何制作一种钝化效果更好、的晶硅电池背钝化减反膜。

本发明所采用的技术方案是:PECVD提高氧化铝背膜钝化效果的制备方法,在制绒、扩散、正激光、碱抛、后氧化的晶体硅片用管式 PECVD 沉积, PECVD 沉积过程安如下步骤进行

步骤一、制备氧化铝膜;

步骤二、进行第一次预清理,在管式 PECVD中,氮气流量为 5-10L/min、氨气流量为5-10L/min,压力1000-2000mTorr,射频功率 7-15kw,持续时间 10-50s,处理温度为350-450℃;

步骤三、制备氮氧化硅膜;

步骤四、进行第二次预先清理,在管式 PECVD中,氮气流量为 3-10L/min、氨气流量为5-10L/min,压力1000-2000mTorr,射频功率 7-15kw,持续时间 10-50s,处理温度为350-500℃;

步骤五、制备氮化硅膜。

步骤一中,制备氧化铝膜时,氮气流量为 3-10L/min、笑气流量为5-10L/min,TMA流量50-150ml/min,压力1000-2000mTorr,射频功率7k-15kwatt,时间100-200s, 处理温度为 350-450℃。

步骤三中,制备氮氧化硅膜时,氮气流量为 3-10L/min、氨气流量为3-6L/min、硅烷流量为450-1450ml/min,笑气流量为5-10L/min,压力1000-2000mTorr,射频功率7k-15kwatt,时间100-300s, 处理温度为 350-500℃;

步骤五中,制备氮化硅膜时,氮气流量为 5-10L/min、氨气流量为3-6L/min、硅烷流量为450-1350ml/min,压力1000-2000mTorr,射频功率7k-15kwatt,时间200-500s, 处理温度为 350-500℃。

本发明的有益效果是:在PECVD的镀膜过程中,在镀氮化硅膜和氮氧化硅膜前添加一次预清理,预清理主要作用是用NH3中的H离子钝化硅片表面,置换杂质,在每次镀膜前添加可以有效的减少镀膜过程中的污染,并生成更纯净的SiNx膜,SiOxNy膜,从而使开压得到很大提升。

具体实施方式

使用 PECVD制作第一氧化铝膜,其中氮气流量为 3-10L/min、笑气流量为5-10L/min,TMA流量50-150ml/min,压力1000-2000mTorr,射频功率7k-15kwatt,时间100-200s,处理温度为 350-450℃ ;

使用 PECVD 在硅基上进行第一次预清理,其中氮气流量为 5-10L/min、氨气流量为5-10L/min,压力1000-2000mTorr,射频功率 7-15kw,持续时间 10-50s,处理温度为350-450℃ ;

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