[发明专利]一种磁梯度仪校正方法、磁梯度仪校正装置及存储介质有效

专利信息
申请号: 202110348780.9 申请日: 2021-03-31
公开(公告)号: CN113176529B 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 杨丽;唐小瑜;肖书婷;李彩虹;张松 申请(专利权)人: 西南民族大学
主分类号: G01R35/02 分类号: G01R35/02;G01R33/022
代理公司: 北京钲霖知识产权代理有限公司 11722 代理人: 李志新;刘亚平
地址: 610041 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 梯度 校正 方法 装置 存储 介质
【说明书】:

本公开是关于一种磁梯度仪校正方法、磁梯度仪校正装置及存储介质。磁梯度仪校正方法包括:获取所述多个传感器采集的地磁数据;将所述多个传感器采集的地磁数据输入至误差校正模型,得到所述多个传感器采集的地磁数据的校正值;其中,所述误差校正模型基于所述多个传感器采集的地磁数据以及所述多个传感器采集地磁数据时所处外界环境的环境参数确定。通过本公开可以提高磁梯度仪的精确度。

技术领域

本公开涉及磁探测技术领域,尤其涉及一种磁梯度仪校正方法、磁梯度仪校正装置及存储介质。

背景技术

磁梯度仪作为一种常见的磁场测量工具,被广泛的应用在地下或水域弱磁场的探测中。常见的磁梯度仪由多个传感器构成,在使用磁梯度仪进行地磁数据测量的过程中,噪声、温度漂移以及磁干扰等环境因素会引起测量误差,传感器之间也可能会存在因非对准而引起的误差。

相关技术中,通常使用参数估计算法估算地磁数据采集过程中的误差参数,并将误差参数引入磁梯度仪,使磁梯度仪输出校正后的地磁数据。该方法无法解决温度漂移、磁干扰等非线性变化的环境因素引起的测量误差。

发明内容

为克服相关技术中存在的问题,本公开提供一种磁梯度仪校正方法、磁梯度仪校正装置及存储介质。

根据本公开实施例的第一方面,提供一种磁梯度仪校正方法,包括:

获取所述多个传感器采集的地磁数据;将所述多个传感器采集的地磁数据输入至误差校正模型,得到所述多个传感器采集的地磁数据的校正值;其中,所述误差校正模型基于所述多个传感器采集的地磁数据以及所述多个传感器采集地磁数据时所处外界环境的环境参数确定。

一种实施方式中,所述误差校正模型采用如下方式确定:在所述多个传感器中确定第一传感器,并确定所述第一传感器在对应第一环境参数的环境中采集的第一实测地磁数据集,以及第一目标地磁数据,所述第一目标地磁数据为对应第一环境参数的环境中的实际地磁数据;基于所述第一实测地磁数据集以及所述第一目标地磁数据,训练得到第一误差校正模型,所述第一误差校正模型的输入包括所述第一传感器采集的实测地磁数据,输出为所述第一传感器的第一校正地磁数据;针对所述多个传感器中不同于第一传感器的其他传感器中的每一传感器,分别基于第二实测地磁数据集以及所述第一校正地磁数据,训练得到第二误差校正模型,所述第二误差校正模型的输入包括所述第二传感器采集的实测地磁数据,输出为所述第二传感器的第二校正地磁数据。

一种实施方式中,所述基于第二实测地磁数据集以及所述第一校正地磁数据,训练得到第二误差校正模型,包括:将所述第一校正地磁数据作为第二目标地磁数据,并将所述第二传感器在对应所述第一环境参数的环境中采集的第二实测地磁数据集作为训练数据,训练得到第二误差校正模型。

一种实施方式中,所述磁梯度仪校正方法还包括:获取所述第一环境参数;基于所述第一实测地磁数据集以及所述目标地磁数据,训练得到第一误差校正模型,包括:基于所述第一实测地磁数据集、所述第一环境参数以及所述目标地磁数据,训练得到第一误差校正模型,所述第一误差校正模型的输入还包括所述第一环境参数;基于所述第二传感器在对应第一环境参数的环境中采集的第二实测地磁数据集以及所述第一校正地磁数据,训练得到第二误差校正模型,包括:基于所述第二实测地磁数据集、所述第一环境参数以及所述目标地磁数据,训练得到第二误差校正模型,所述第二误差校正模型的输入还包括所述第一环境参数。

一种实施方式中,所述确定所述第一传感器在对应第一环境参数的环境中的目标地磁数据,包括:控制所述第一传感器基于随机采样的采样方式,在对应第一环境参数的环境中采集地磁数据,得到地磁数据样本集;基于算法仿真,确定所述第一传感器在所述对应第一环境参数的环境中采集的实际地磁数据,所述实际地磁数据中各地磁数据间的模值都相同;基于优化算法,确定与所述地磁数据样本集差值最小的所述实际地磁数据,并将所述差值最小的所述实际地磁数据作为所述第一目标地磁数据

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