[发明专利]一种提高偏振消光比测量精度的方法

权利要求书

1.一种提高偏振消光比测量精度的方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1：将测试光路通过光纤接入消光比测试仪检偏系统中；

步骤2：按顺序初始化5个序列x_in(i＝1，2，3，4，5)；即x_1n，x_2n，x_3n，x_4n，x_5n，此五个序列用于存放从电机起始位置开始等间距采集的光功率数据，其中i代表序列的序号，n代表每个序列中光功率采集序号，为了保证等间距采样，每个序列中相邻两个点对应位置差d是相同的，并且相邻两个序列的初始点对应位置差也为d；令i＝1；

步骤3：激活序列1，设置电机转动的初始位置a，开始测试；

步骤4：电机匀速转动并从初始位置计时；

步骤5：每隔5t秒采集一次光功率值，得到光功率采样序列x_in＝{x_i1，x_i1+5，...，x_i(1+5(n-1))}(i＝1，2，3，4，5；n＞0)，即一组光功率数据；

步骤6：判断是否激已激活第五个序列；若已经激活第五个序列，完成5次光功率采集，即一个光功率采集周期结束，则执行步骤7的操作，否则重令i＝i+1；激活下一个序列，并设置初始位置a＝a+t，并激活新序列，重复执行步骤4；

步骤7：将得到的5个序列的元素按照时间索引进行排序，得到新的光功率采集序列y_m(m＝5n)＝{x₁₁，x₂₁，x₃₁，x₄₁，x₅₁，…，x_1(1+5(n-1))，x_2(1+5(n-1))，x_3(1+5(n-1))，x_4(1+5(n-1))，x_5(1+5(n-1))}(n＞0)；即为最终采样序列，实现了等间距采样，并且提高了采样精度；

步骤8：搜索序列y_m的最大值和最小值y_max，y_min，计算消光比P＝y_max-y_min。

2.如权利要求1所述的提高偏振消光比测量精度的方法，其特征在于，所述步骤1中的检偏系统，是采用对数放大采集电路的检偏系统，具体：测试光经光纤连接器再经过第一透镜准直后，通过旋转检偏器改变光的偏振态，再经过第二透镜汇聚，出来的光信号最后通过光电探测器、对数信号采集模块后转换成数字量，送到MCU主控制器中计算出功率值和消光比值。

3.如权利要求2所述的提高偏振消光比测量精度的方法，其特征在于，所述MCU主控制器还设置与电机模块相连接，将位置数据发送到电机模块，电机模块带动旋转检偏器转动，后再经循环至MCU主控制器接收采集模块采集到的光功率值并计算。

4.如权利要求3所述的提高偏振消光比测量精度的方法，其特征在于，所述MCU主控制器还设置与数据存储模块、LCD显示模块、按键控制模块相互连接相互通讯；MCU主控制器还设置与外部接口相连接，用于远程控制访问功能。