[发明专利]一种提高偏振消光比测量精度的方法

说明书

本发明公开了一种提高偏振消光比测量精度的方法，其中，基于方法中采用对数放大采集电路的检偏系统，测试光经过第一透镜准直后，通过旋转检偏器改变光的偏振态，再经过第二透镜汇聚，出来的光信号最后通过探测器、对数采集模块后转换成数字量，送到MCU中计算出功率值和消光比值。本发明的优势：1.更改采集电路，使用对数放大器作为消光比测试仪的电流转电压电路；2.利用等间隔延时重复采样的方式采集功率值，提高消光比的测试精度。3、减少原来消光比测试仪由于换挡造成的测试误差；4、提高消光比测量的动态范围。

技术领域

本发明涉及偏振消光比测试技术领域，尤其涉及的是一种提高偏振消光比测量精度的方法。

背景技术

偏振消光比测试技术广泛应用在保偏光纤传感器生产和研制中。在光纤陀螺生产过程中，光学系统偏移问题是光纤陀螺系统中必须解决的技术难题，在光路中添加偏振器并用保偏光纤绕制光纤环能够解决光波在传输过程中偏振态引起的输出光强波动，从而抑制光波偏振态变化引起的光纤陀螺漂移问题；另外，高速电光调制器是高速光纤通信系统的重要部件，广泛应用于高级高速光纤通信及空间光通信，而消光比是衡量电光调制器性能的重要参数。因此，市场对偏振消光比测试仪的需求日益增大。

现有的偏振消光比测试仪是利用旋转检偏法实现消光比的测试，旋转检偏器转动一圈的过程中，测试光经过旋转检偏器件后经过光电转换、程控放大和数字转换环节得到光功率数字量，经处理器计算得出消光比值。现有技术的缺点：1.功率采集电路复杂，在低功率测试换挡时，会产生换挡误差；2.现有的消光比测试仪采样点数较少，导致消光比测试精度较低。

发明内容

本发明基于采用对数放大采集电路的检偏系统，提出了提高偏振消光比测量精度的方法，提高消光比的测试精度。

本发明的技术方案如下：一种提高偏振消光比测量精度的方法，包括

以下步骤：

步骤1：将测试光路通过光纤接入消光比测试仪检偏系统中；

步骤2：按顺序初始化5个序列x_in(i＝1,2,3,4,5)；即x_1n,x_2n,x_3n,x_4n,x_5n, 此五个序列用于存放从电机起始位置开始等间距采集的光功率数据，其中i代表序列的序号，n代表每个序列中光功率采集序号，为了保证等间距采样，每个序列中相邻两个点对应位置差d是相同的，并且相邻两个序列的初始点对应位置差也为d；令i＝1；

步骤3：激活序列1，设置电机转动的初始位置a，开始测试；

步骤4：电机匀速转动并从初始位置计时；

步骤5：每隔5t秒采集一次光功率值，得到光功率采样序列x_in＝ {x_i1,x_i1+5,…,x_i(1+5(n-1))}(i＝1,2,3,4,5；n＞0)，即一组光功率数据；

步骤6：判断是否激已激活第五个序列；若已经激活第五个序列，完成 5次光功率采集，即一个光功率采集周期结束，则执行步骤7的操作，否则重令i＝i+1；激活下一个序列，并设置初始位置a＝a+t,并激活新序列，重复执行步骤4；

步骤7：将得到的5个序列的元素按照时间索引进行排序，得到新的光功率采集序列 y_m(m＝5n)＝ {x₁₁,x₂₁,x₃₁,x₄₁,x₅₁,…,x_1(1+5(n-1)),x_2(1+5(n-1)),x_3(1+5(n-1)),x_4(1+5(n-1)),x_5(1+5(n-1))} (n＞0)；即为最终采样序列，实现了等间距采样，并且提高了采样精度；