[实用新型]一种功率器件的老化测试装置

说明书

本实用新型提供一种功率器件的老化测试装置，包括电容、可控开关器件、功率器件测试位、两个二极管和电感，电容连接在电压接入端口和接地端之间，可控开关器件的第一端、第一二极管的正极与电压接入端口连接，可控开关器件的第二端、第二二极管的正极与电感的第一端连接，电感的第二端、第一二极管的负极与功率器件测试位的第一端连接，第二二极管的负极、功率器件测试位的第二端与接地端连接。使得电感充电过程输入电源注入到电感的能量与电感回馈能量过程电感回馈到输入电源的能量相等，老化试验基本没有损耗，同时避免长时间老化试验中消耗大量电能，节约能源和降低试验成本。

技术领域

本实用新型涉及器件老化测试领域，尤其涉及一种功率器件的老化测试装置。

背景技术

老化测试是把很多台装置放置于在一个封闭的环境中长期运行，其是功率半导体可靠性试验中必不可少的部分。目前常用的老化测试电路主要是Boost电路(图1)和Buck电路(图2)，使用电子负载或电阻来进行能量的施放。一方面，每个电阻负载都在消耗能量，装置数量多且测试时间长会造成很大的电能消耗，测试成本非常高，使用电子负载时，电子负载本身也是非常昂贵，另一方面，负载消耗的电能会转化成热量，会让测试环境的温升很高，不利于长时间老化试验的进行，为改善散热则需要高成本的散热器以及风冷设备，增加了试验成本以及试验系统的复杂度。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种节约能源且降低试验成本的功率器件的老化测试装置。

为了实现本实用新型目的，本实用新型提供一种功率器件的老化测试装置，包括电压接入端口、接地端、电容、可控开关器件、功率器件测试位、第一二极管、第二二极管和电感，电容连接在电压接入端口和接地端之间，可控开关器件的第一端、第一二极管的正极与电压接入端口连接，可控开关器件的第二端、第二二极管的正极与电感的第一端连接，电感的第二端、第一二极管的负极与功率器件测试位的第一端连接，第二二极管的负极、功率器件测试位的第二端与接地端连接。

更进一步的方案是，老化测试装置还包括控制单元，可控开关器件的控制端与控制单元连接，功率器件测试位的控制端与控制单元连接。

更进一步的方案是，可控开关器件可采用MOSFET器件、IGBT器件或电磁开关器件。

更进一步的方案是，老化测试装置还包括功率器件，功率器件设置在功率器件测试位上，功率器件的源极与接地端连接，功率器件的漏极与第一二极管的负极连接。

由上可见，功率器件可设置在功率器件测试位上，通过不同时序对可控开关器件和功率器件测试位通断，继而可实现电感充电、电感续流、电感回馈能量、电感续流、电感充电等功能，并通过上述功能的循环进行老化测试，可以使得电感充电过程输入电源注入到电感的能量与电感回馈能量过程电感回馈到输入电源的能量相等，这样整个装置老化试验的过程将基本没有损耗，同时避免了长时间老化试验过程中消耗大量电能，达到节约能源和降低试验成本的效果，且该电路不会产生大量的热量，保证了长时间老化试验的顺利进行，另外本案的电路结构简单。且利用半导体开关器件的长时间老化试验，可提高测试的稳定性，也有利于降低能耗和废热的产生。

附图说明

图1是现有技术中Boost电路的电路图。

图2是现有技术中Buck电路的电路图。

图3是本实用新型老化测试装置实施例的电路原理图。

图4是本实用新型老化测试方法第一实施例中电感充电步骤的电路示意图。

图5是本实用新型老化测试方法第一实施例中第一电感续流步骤的电路示意图。

图6是本实用新型老化测试方法第一实施例中电感回馈能量的电路示意图。

图7是本实用新型老化测试方法第二实施例中第二电感续流步骤的电路示意图。