[发明专利]一种线扫相机结构及具有线扫相机结构的大尺寸面板光学检测设备有效

专利信息
申请号: 201910568049.X 申请日: 2019-06-27
公开(公告)号: CN110319311B 公开(公告)日: 2021-06-01
发明(设计)人: 成奎 申请(专利权)人: 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
主分类号: F16M11/04 分类号: F16M11/04;F16M11/12;F16M11/16;F16M11/18;G03B17/56;G01N21/95
代理公司: 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 代理人: 黄行军;蔡俊
地址: 430205 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 相机 结构 有线 尺寸 面板 光学 检测 设备
【说明书】:

发明公开了一种线扫相机结构,包括线扫相机和用于调节线扫相机位置的调节机构,调节机构包括初步调节线扫相机上下及前后位置的粗调机构、精确调节线扫相机上下及前后位置的微调机构和调节线扫相机绕垂直轴旋转角度、绕水平轴旋转角度和俯仰角度的角度调节机构;粗调机构为丝杆滑台结构,线扫相机固定于角度调节机构上。通过粗调机构、微调机构和角度调节机构形成一套基于上下线扫相机的具有多挡调节结构的光学检测装置,尤其粗调机构采用的结构方便人手直接调节,多种安装组合调节方式使得装置的整体结构操作更加方便,机种切换更加灵活,方便了生产过程中的换线操作,满足了多种尺寸屏幕的检测需求。

技术领域

本发明涉及面板检测设备技术领域,具体地指一种线扫相机结构及具有线扫相机结构的大尺寸面板光学检测设备。

背景技术

随着光电子信息技术飞速发展,显示屏广泛应用普及。各大面板厂商为了保证面板的生产合格率和质量,在每道生产工序后需要对面板进行一系列的不良检测。其中面板的:crack(裂纹)、scratch(划痕)、glass chip(玻璃缺口、碎片)、particle(颗粒)等不良外观,将直接影响到成品出货质量和客户使用体验,因此不良检测在面板产品的检测中尤为重要。显示面板的不良检测中,尤其是在对于大尺寸面板的不良检测中,如何提高检测精度,并增强设备操作便捷性,是业内面临的重要问题。

发明内容

本发明的目的就是要解决上述背景技术的不足,提供一种可直接人手调节、具有多个调节档位的线扫相机结构及具有线扫相机结构的大尺寸面板光学检测设备。

为实现此目的,本发明所设计的线扫相机结构,包括线扫相机和用于调节线扫相机位置的调节机构,其特征在于:所述调节机构包括初步调节所述线扫相机上下及左右位置的粗调机构和调节所述线扫相机绕垂直轴旋转角度、绕水平轴旋转角度和俯仰角度的角度调节机构,所述线扫相机固定于所述角度调节机构上;

所述粗调机构包括初步调节所述线扫相机上下位置的上下粗调机构和初步调节所述线扫相机左右位置的左右粗调机构;

所述上下粗调机构包括可上下移动的第一活动部和可通过人手直接操作、驱动所述第一活动部上下移动的第一驱动部,所述左右粗调机构包括可左右移动的第二活动部和可通过人手直接操作、驱动所述第二活动部左右移动的第二驱动部,所述第一活动部和所述第二活动部之间通过可引导所述第一活动部上下移动或可引导所述第二活动部左右移动的导向支架固定连接。

进一步的,所述上下粗调机构包括上下粗调机构支架和设置于所述上下粗调机构支架上的垂直导轨,所述第一活动部为连接于所述垂直导轨上的上下移动滑块,所述第一驱动部为与所述上下移动滑块螺纹连接、垂直设置的上下调节螺杆,所述上下调节螺杆的两端分别穿过所述上下粗调机构支架的顶部和底部、分别固定连接有一个上下调节手轮;

所述左右粗调机构固定于所述上下移动滑块上。

进一步的,所述左右粗调机构包括固定于所述上下移动滑块上的左右粗调机构支架和设置于所述左右粗调机构支架上的水平导轨,所述左右粗调机构支架和水平导轨组成所述导向支架,所述第二活动部为连接于所述水平导轨上、可沿其轴向左右移动的左右移动滑块,所述第二驱动部为与所述左右移动滑块螺纹连接、水平设置的左右调节螺杆,所述左右调节螺杆的两端分别穿过所述左右粗调机构支架的左右两端固定连接有一个左右调节手轮。

更进一步的,所述上下粗调机构支架上设有可锁止所述上下调节螺杆的转动位置、使所述上下移动滑块在所述垂直导轨上定位的上下移动锁止结构;

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