[发明专利]脉冲激光的脉冲功率测量方法有效
| 申请号: | 201910029622.X | 申请日: | 2019-01-11 |
| 公开(公告)号: | CN109738064B | 公开(公告)日: | 2021-08-31 |
| 发明(设计)人: | 王志煌;张国忠;杨连池 | 申请(专利权)人: | 厦门盈趣科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G01J1/42 | 分类号: | G01J1/42;G01J1/44 |
| 代理公司: | 厦门仕诚联合知识产权代理事务所(普通合伙) 35227 | 代理人: | 吴圳添 |
| 地址: | 361000 福建省厦门市海沧区*** | 国省代码: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 脉冲 激光 功率 测量方法 | ||
一种脉冲激光的脉冲功率测量方法,包括:将n个第一激光束,照射到反射介质表面以产生漫反射光;采用第一光电转化器件,接收部分漫反射光以产生第一电信号;根据n个第一激光束对应的n个已知低脉冲功率和n个第一电信号,得到激光脉冲功率与第一电信号的特性曲线,作为第一特性曲线;将待测量激光束,照射到反射介质表面以产生第一测量反射光;采用第一光电转化器件,接收部分第一测量反射光以产生第一测量电信号;根据第一特性曲线和第一测量电信号,计算得到待测量激光束的第一测量脉冲功率。所述脉冲激光的脉冲功率测量方法能够低成本、便捷、快速和准确地测量相应的脉冲功率。
技术领域
本发明涉及光学领域,尤其涉及一种脉冲激光的脉冲功率测量方法。
背景技术
现有测量激光输出功率的方式,通常需要采用专用的高成本测量设备,并且,通常所要测量的功率越高,所需要的仪器成本越高。因此,很多情况下,人们在使用相应激光时,手头经常并没有相应的高昂测量仪器,无法及时快捷地对相应的激光进行测量。
公开号为CN105222889A的中国专利申请,公开一种强激光功率密度的测量装置,它依次包括激光器、聚焦透镜和真空腔,真空腔设有进气管和真空泵,进气管连接有储气瓶和喷嘴,喷嘴具有极性分子喷流,真空腔连接有软X射线摄像头,所述真空腔设有进光窗口和铝膜,所述进光窗口与铝膜相对,且所述进光窗口与聚焦透镜相邻,所述铝膜与软X射线摄像头相邻。这样的装置正如前面所述,这样的测量装置通常制造复杂,成本高昂。
公开号为CN105181131A的中国专利申请,公开一种激光功率测量方法,它通过将激光打在及稀土掺杂纳米材料上,来产生荧光,然后测定荧光,来反映和计算激光功率。然而,这种方式需要手边有相应的特定稀土掺杂纳米材料,即需要有能够产生荧光的稀土掺杂纳米材料,通常同样无法方便地解决人们对激光脉冲功率的测量需求。
对于脉冲激光,特别是脉冲功率在2W以上的脉冲激光,如何进行成本低且准确度有保证的测量,成为业界的需求。
发明内容
本发明解决的问题是提供一种脉冲激光的脉冲功率测量方法,以更方便快捷地测量脉冲激光的脉冲功率。
为解决上述问题,本发明提供一种脉冲激光的脉冲功率测量方法,包括:提供n个第一激光束,每个所述第一激光束具有一个已知的低脉冲功率,不同所述第一激光束的所述低脉冲功率不同,n为2以上的整数;将n个所述第一激光束,从第一入射位置,照射到反射介质表面以产生漫反射光;采用第一光电转化器件,在第一反射位置,接收部分所述漫反射光以产生第一电信号;根据n个所述第一激光束对应的n个所述已知低脉冲功率和n个所述第一电信号,得到激光脉冲功率与所述第一电信号的特性曲线,作为第一特性曲线;将待测量激光束,从所述第一入射位置,照射到所述反射介质表面以产生第一测量反射光;采用所述第一光电转化器件,在所述第一反射位置,接收部分所述第一测量反射光以产生第一测量电信号;根据所述第一特性曲线和所述第一测量电信号,计算得到所述待测量激光束的第一测量脉冲功率;采用第二光电转化器件,在第二反射位置,接收部分所述漫反射光以产生第二电信号;根据n个所述第一激光束对应的n个所述已知低脉冲功率和n个所述第二电信号,得到激光脉冲功率与所述第二电信号的特性曲线,作为第二特性曲线;根据所述第二特性曲线和所述第二电信号,计算得到所述待测量激光束的第二测量脉冲功率;获取所述第一测量脉冲功率和所述第二测量脉冲功率的平均值。
可选的,所述低脉冲功率在1.6W以下,所述待测量激光束的脉冲功率在2.0W以上20W以下。
可选的,所述第一光电转化器件为硅光电二极管。
可选的,所述硅光电二极管的感光面与所述漫反射光的夹角为锐角。
可选的,将所述第一光电转化器件的输出连接至放大电路,对所述第一电信号进行放大。
可选的,所述待测量激光束的脉冲频率在1kHz以上,所述第一光电转化器件的响应频率在1kHz以上。
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