[发明专利]一种提高SAR-ADC电路性能的方法

权利要求书

1.一种提高SAR-ADC电路性能的方法，其特征在于：该方法将SAR-ADC电路中的ADC电容驱动电路的电容负极的充电时间分成初期与后期，在初期使用低精度基准电源给电容的负极充电，在后期使用高精度基准电源给电容的负极充电；具体是在ADC电容驱动电路中采用三个控制开关，三个控制开关的一个触点分别接电容的一端，另一个触点分别接地、接高精度基准电源(Vref1)、接低精度基准电源(Vref2)；接地的控制开关的控制端接电容驱动控制信号(KEY)，接高精度基准电源(Vref1)的控制开关和接低精度基准电源(Vref2)的控制开关的控制端通过时序控制电路接电容驱动控制信号(KEY)；

当电容驱动控制信号(KEY)为高电平时，接地的控制开关闭合，接高精度基准电源(Vref1)的控制开关和接低精度基准电源(Vref2)的控制开关断开，令电容的负极接地；

当电容驱动控制信号(KEY)为低电平时，接地的控制开关断开，接低精度基准电源(Vref2)的控制开关首先闭合，接高精度基准电源(Vref1)的控制开关保持断开，令电容的负极接低精度基准电源，电容负极的电位上升，当接近或达到低精度基准电源(Vref2)的电位时，时序控制电路控制接低精度基准电源(Vref2)的控制开关断开，接高精度基准电源(Vref1)的控制开关闭合，令电容的负极接高精度基准电源(Vref1)；具体实现电路如下：

包括一个高精度基准电源(Vref1)、一个低精度基准电源(Vref2)、三个控制开关、两个电阻、一个电容、两个两输入或门、一个非门、一个比较器；

第一控制开关(S1)的一个触点、第二控制开关(S2)的一个触点、第三控制开关(S3)的一个触点、比较器(CMP)的同相输入端接电容(C)的一端，第一电阻(R1)的一端和第二电阻(R2)的一端接比较器(CMP)的反相输入端，第一控制开关(S1)的另一个触点和第一电阻(R1)的另一端接地，第二控制开关(S2)的另一个触点接高精度基准电源(Vref1)，第三控制开关(S3)的另一个触点和第二电阻(R2)的另一端接低精度基准电源(Vref2)，电容(C)的另一端为输出端；比较器(CMP)的输出端和第一两输入或门(OR1)的一个输入端接非门(N)的输入端，非门(N)的输出端接第二两输入或门(OR2)的一个输入端，第一两输入或门(OR1)的另一个输入端、第二两输入或门(OR2)的另一个输入端以及第一控制开关(S1)的控制端接电容驱动控制信号(KEY)，第二控制开关(S2)的控制端接第二两输入或门(OR2)的输出端，第三控制开关(S3)的控制端接第一两输入或门(OR1)的输出端；

所述的高精度基准电源(Vref1)采用现有ADC电容驱动电路中的高精度基准电源标准，低精度基准电源(Vref2)为没有波动范围要求的普通电源。

2.如权利要求1所述的一种提高SAR-ADC电路性能的方法，其特征在于：所述的低精度基准电源(Vref2)采用电路中的电路工作电源(VDD)。