[发明专利]一种获取存储器宏单元尺寸的方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及存储器技术领域，尤其涉及一种获取存储器宏单元尺寸的方法及装置。

背景技术

随着半导体制造工艺和集成电路设计能力的不断进步，系统级芯片(System-on-Chip，SoC)中使用的存储器数目日益增多，由于在同一个设计中需要各种大小不同或者结构不同的存储器，完全用全定制的方法设计这些存储器变得非常困难。存储器编译器就成为用来生成不同大小与功能的存储器的有效工具而被广泛使用。存储器编译器编程产生存储器宏单元时，部分设计文件需要获取存储器宏单元的尺寸，比如Datasheet、Synopsys Liberty模型文件等。获取存储器宏单元尺寸最直接的办法是编译产生真实版图，再读取版图尺寸。但是在实际环境中，由于版权控制的原因，存储器编译器不一定能提供真实版图，或者由于版图由版图编程编译产生，存储器编译器处于设计早期阶段，尚未形成真实版图，因此需要一套不依赖真实版图编程的方法。

目前现有技术中不依赖真实版图获取存储器宏单元尺寸的方法是查表，即在存储器编译器设计阶段预制一份以存储器宏单元参数(如存储器字数、位数)为索引的尺寸表，通过在所述尺寸表中检索存储器宏单元参数获取存储器宏单元尺寸信息。

在实现本发明的过程中，发明人发现现有技术中至少存在如下技术问题：存储器宏单元尺寸由存储器编译器参数决定，可能的参数组合数越多，以存储 器编译器参数为索引的尺寸表数据就越庞大，从而导致存储器编译器的设计复杂度大大增加。

发明内容

本发明提供的一种获取存储器宏单元尺寸的方法及装置，能够降低存储器编译器的设计复杂度。

第一方面，本发明提供一种获取存储器宏单元尺寸的方法，所述获取存储器宏单元尺寸的方法包括：

获取全部的框架版图基本单元；

将所述全部的框架版图基本单元按照预设的版图拼接算法进行拼接，得到存储器宏单元顶层新建单元；

根据所述全部的框架版图基本单元的坐标获取所述存储器宏单元顶层新建单元的坐标；

根据所述存储器宏单元顶层新建单元的坐标计算所述存储器宏单元的尺寸。

可选地，所述根据所述全部的框架版图基本单元的坐标获取所述存储器宏单元顶层新建单元的坐标包括：

取各框架版图基本单元左下角的X坐标的最小值作为所述存储器宏单元顶层新建单元的左下角的X坐标，取各框架版图基本单元左下角的Y坐标的最小值作为所述存储器宏单元顶层新建单元的左下角的Y坐标；

取各框架版图基本单元右上角的X坐标的最大值作为所述存储器宏单元顶层新建单元的右上角的X坐标，取各框架版图基本单元右上角的Y坐标的最大值作为所述存储器宏单元顶层新建单元的右上角的Y坐标。

可选地，所述根据所述存储器宏单元顶层新建单元的坐标计算所述存储器宏单元的尺寸包括：

将所述存储器宏单元顶层新建单元的右上角的X坐标与左下角的X坐标作差，得到所述存储器宏单元的宽度；将所述存储器宏单元顶层新建单元的右上角的Y坐标与左下角的Y坐标作差，得到所述存储器宏单元的高度。

可选地，所述预设的版图拼接算法为版图编程中版图基本单元的拼接算法。

可选地，在所述根据所述存储器宏单元顶层新建单元的坐标计算所述存储器宏单元的尺寸之后，还包括当需要为所述存储器宏单元增加电源环时，将所述电源环的轮廓矩形的尺寸作为所述存储器宏单元的尺寸。

第二方面，本发明提供一种获取存储器宏单元尺寸的装置，所述获取存储器宏单元尺寸的装置包括：

第一获取单元，用于获取全部的框架版图基本单元；

拼接单元，用于将所述全部的框架版图基本单元按照预设的版图拼接算法进行拼接，得到存储器宏单元顶层新建单元；

第二获取单元，用于根据所述全部的框架版图基本单元的坐标获取所述存储器宏单元顶层新建单元的坐标；

计算单元，用于根据所述存储器宏单元顶层新建单元的坐标计算所述存储器宏单元的尺寸。

可选地，所述第二获取单元，用于取各框架版图基本单元左下角的X坐标的最小值作为所述存储器宏单元顶层新建单元的左下角的X坐标，取各框架版图基本单元左下角的Y坐标的最小值作为所述存储器宏单元顶层新建单元的左下角的Y坐标；取各框架版图基本单元右上角的X坐标的最大值作为所述存储器宏单 元顶层新建单元的右上角的X坐标，取各框架版图基本单元右上角的Y坐标的最大值作为所述存储器宏单元顶层新建单元的右上角的Y坐标。