[发明专利]一种获取存储器宏单元尺寸的方法及装置在审

专利信息
申请号: 201510885139.3 申请日: 2015-12-04
公开(公告)号: CN106844809A 公开(公告)日: 2017-06-13
发明(设计)人: 张爱林 申请(专利权)人: 展讯通信(上海)有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 北京汇泽知识产权代理有限公司11228 代理人: 张瑾
地址: 201203 上海市浦东新区浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 获取 存储器 单元 尺寸 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种获取存储器宏单元尺寸的方法,其特征在于,所述方法包括:

获取全部的框架版图基本单元;

将所述全部的框架版图基本单元按照预设的版图拼接算法进行拼接,得到存储器宏单元顶层新建单元;

根据所述全部的框架版图基本单元的坐标获取所述存储器宏单元顶层新建单元的坐标;

根据所述存储器宏单元顶层新建单元的坐标计算所述存储器宏单元的尺寸。

2.根据权利要求1所述的获取存储器宏单元尺寸的方法,其特征在于,所述根据所述全部的框架版图基本单元的坐标获取所述存储器宏单元顶层新建单元的坐标包括:

取各框架版图基本单元左下角的X坐标的最小值作为所述存储器宏单元顶层新建单元的左下角的X坐标,取各框架版图基本单元左下角的Y坐标的最小值作为所述存储器宏单元顶层新建单元的左下角的Y坐标;

取各框架版图基本单元右上角的X坐标的最大值作为所述存储器宏单元顶层新建单元的右上角的X坐标,取各框架版图基本单元右上角的Y坐标的最大值作为所述存储器宏单元顶层新建单元的右上角的Y坐标。

3.根据权利要求2所述的获取存储器宏单元尺寸的方法,其特征在于,所述根据所述存储器宏单元顶层新建单元的坐标计算所述存储器宏单元的尺寸包括:

将所述存储器宏单元顶层新建单元的右上角的X坐标与左下角的X坐标作差,得到所述存储器宏单元的宽度;将所述存储器宏单元顶层新建单元的右上 角的Y坐标与左下角的Y坐标作差,得到所述存储器宏单元的高度。

4.根据权利要求1所述的获取存储器宏单元尺寸的方法,其特征在于,所述预设的版图拼接算法为版图编程中版图基本单元的拼接算法。

5.根据权利要求1所述的获取存储器宏单元尺寸的方法,其特征在于,在所述根据所述存储器宏单元顶层新建单元的坐标计算所述存储器宏单元的尺寸之后,还包括:

当需要为所述存储器宏单元增加电源环时,将所述电源环的轮廓矩形的尺寸作为所述存储器宏单元的尺寸。

6.一种获取存储器宏单元尺寸的装置,其特征在于,所述装置包括:

第一获取单元,用于获取全部的框架版图基本单元;

拼接单元,用于将所述全部的框架版图基本单元按照预设的版图拼接算法进行拼接,得到存储器宏单元顶层新建单元;

第二获取单元,用于根据所述全部的框架版图基本单元的坐标获取所述存储器宏单元顶层新建单元的坐标;

计算单元,用于根据所述存储器宏单元顶层新建单元的坐标计算所述存储器宏单元的尺寸。

7.根据权利要求6所述的获取存储器宏单元尺寸的装置,其特征在于,

所述第二获取单元,用于取各框架版图基本单元左下角的X坐标的最小值作为所述存储器宏单元顶层新建单元的左下角的X坐标,取各框架版图基本单元左下角的Y坐标的最小值作为所述存储器宏单元顶层新建单元的左下角的Y坐标;取各框架版图基本单元右上角的X坐标的最大值作为所述存储器宏单元顶层新建单元的右上角的X坐标,取各框架版图基本单元右上角的Y坐标的最大值作为 所述存储器宏单元顶层新建单元的右上角的Y坐标。

8.根据权利要求7所述的获取存储器宏单元尺寸的装置,其特征在于,所述计算单元,用于将所述存储器宏单元顶层新建单元的右上角的X坐标与左下角的X坐标作差,得到所述存储器宏单元的宽度;将所述存储器宏单元顶层新建单元的右上角的Y坐标与左下角的Y坐标作差,得到所述存储器宏单元的高度。

9.根据权利要求6所述的获取存储器宏单元尺寸的装置,其特征在于,所述预设的版图拼接算法为版图编程中版图基本单元的拼接算法。

10.根据权利要求6所述的获取存储器宏单元尺寸的装置,其特征在于,还包括重置单元,用于在所述计算单元根据所述存储器宏单元顶层新建单元的坐标计算所述存储器宏单元的尺寸之后,当需要为所述存储器宏单元增加电源环时,将所述电源环的轮廓矩形的尺寸作为所述存储器宏单元的尺寸。

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