[发明专利]一种提高同测数的新型测试开发方法

权利要求书

1.一种提高同测数的新型测试开发方法，其特征在于包括：

第一步骤，用于接收测试需求；

第二步骤，用于评估测试需求以便针对芯片的管脚对测试需求进行分组归类；

第三步骤，用于评估分组归类后的管脚能否共享测试通道；

其中，在第三步骤中判断分组归类后的管脚不能共享测试通道的情况下，返回第二步骤；在第三步骤中判断分组归类后的管脚能共享测试通道的情况下执行第四步骤；

第四步骤，用于确认同测数。

2.根据权利要求1所述的提高同测数的新型测试开发方法，其特征在于还包括：

第五步骤，用于探针卡设计和制作；

第六步骤，用于测试程序开发；

第七步骤，用于测试程序调试；

第八步骤，用于晶圆测试。

3.根据权利要求1或2所述的提高同测数的新型测试开发方法，其特征在于，在第四步骤中，确认同测数预估＝(测试机通道数-芯片共享管脚数)/芯片非共享管脚数。

4.根据权利要求1或2所述的提高同测数的新型测试开发方法，其特征在于，第三步骤包括将具有相同输入结构且无上下拉电阻的管脚归为一个驱动类别。

5.根据权利要求4所述的提高同测数的新型测试开发方法，其特征在于，归为一个驱动类别的管脚共享测试通道资源。