[发明专利]电子装置、效能分类系统与方法、电压自动校正系统

说明书

技术领域

本发明是有关于一种集成电路的测试方式，且特别是有关于一种对集成电路的效能进行分类的方法与系统。

背景技术

传统上，功能与交流扫描模式(AC-scan pattern)常用于测试集成电路的功能与效能。也就是说，功能性与交流性的模式常用以验证芯片的操作速度与操作正确性。随着测试模式，一个时脉速度常被输入至待测的芯片中。

图1为将一个芯片的实际操作速度与功能性测试模式进行关联的传统流程图。在步骤101中，在布局与验证完成后，芯片下线制作完成。在步骤102中，在芯片制作完成后，通过后芯片测试(post-silicon testing)来对芯片收集数据以进行进一步地的测试。在步骤103中，芯片的效能与功能性或交流扫描模式的关联可被决定。在步骤104中，利用前述的关联而对效能进行分类。然而，这种测试方式需要较高的成本，且将大量的功能性或交流性测试模式与实际芯片的操作速度进行关联，会需要较长的操作时间。

在不同态样的传统方法中，临界路径(critical paths)常被用来感测，以获得临界路径上的延迟时间，借此决定芯片的效能。然而，在后芯片制作中，可能会有上千条路径可以被当作所谓的临界路径。在后芯片制作中，利用单一的环形震荡器或复制的临界路径，无法对多个变化的临界路径有效率地进行关联。因此，利用临界路径来对芯片的实际操作速度不是有效率的方式。

因此，现行仍需要一种有效且具有效率的方式来决定芯片的效能或速度。

发明内容

本发明的一方面提供了一种计算集成电路的效能的方法，此方法包含下列步骤：将多个硬件效能监视器放置于多个集成电路中的每一者中，其中每一硬件效能监视器根据对应的集成电路的效能产生数值；根据多个硬件效能监视器产生的多个数值，提供一个效能函数，其中效能函数包含多个项目，且每一项目各自关联于一权重；根据多个集成电路中的第一组集成电路计算多个项目的多个权重，其中第一组集成电路的效能为已知；以及根据效能函数计算多个集成电路中的多个第一集成电路的效能，其中效能函数与多个权重内建于多个第一集成电路中。

本发明的一方面提供了一种电子装置。电子装置用于计算多个集成电路中的一者的效能，电子装置包含多个硬件效能监视器、储存单元与内建自我测试模块。多个硬件效能监视器位于多个集成电路中，其中每一硬件效能监视器根据对应的集成电路的效能产生数值。储存单元用以根据多个硬件效能监视器产生的多个数值以储存一效能函数中的多个权重，效能函数包含多个项目，其中效能函数中的每一项目分别关联于多个权重中的一对应者，且每一项目的权重是根据多个集成电路中的第一组集成电路的效能所决定，第一组集成电路的效能为已知。内建自我测试模块用以根据在多个集成电路中的多个硬件效能监视器产生的多个数值与储存单元储存的所述权重，获得效能函数的一量值，借此计算多个集成电路中的一者的效能。

本发明的一方面提供了一种电路系统。电路系统包含多个集成电路、多个硬件效能监视器、储存单元与内建自我测试模块。多个硬件效能监视器位于多个集成电路中，其中每一硬件效能监视器根据对应的集成电路的效能产生数值。储存单元用以根据多个硬件效能监视器产生的多个数值以储存一效能函数中的多个权重，效能函数包含多个项目，其中效能函数中的每一项目分别关联于多个权重中的一对应者，且每一项目的权重是根据多个集成电路中的第一组集成电路的效能所决定，第一组集成电路的效能为已知。内建自我测试模块用以根据在多个集成电路中的多个硬件效能监视器产生的多个数值与储存单元储存的所述权重，获得效能函数的一量值，借此计算多个集成电路中的一者的效能。

本发明的一方面提供了一种分类系统。分类系统包含前述的电路系统与接口。接口耦接至电路系统，以获得多个集成电路的效能。

本发明的一方面提供了一种电压自动校正系统，可适用于前述的电子装置。电压自动校正系统包含电源管理模块与电压调整模块。电源管理模块用以根据控制信号产生驱动电压，以驱动多个集成电路。电压调整模块电性耦接电源管理模块，用以对效能函数的该量值与一目标值进行比较，以产生控制信号。

综上所述，本发明的分类系统与计算效能的方法可有效率地同时对多个集成电路或芯片进行准确的效能估算。此外，搭配了电压自动校正的设计，本发明降低芯片制作后产生的变异或老化现象，可让多个芯片具有更稳定的效能，并同时节省不必要的功率消耗。

附图说明

为让本发明的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附附图的说明如下：