[发明专利]电子装置、效能分类系统与方法、电压自动校正系统

权利要求书

1.一种用以计算一集成电路的效能的方法，其特征在于，包含：

将多个硬件效能监视器放置于多个集成电路中的每一者中，其中每一所述硬件效能监视器根据对应的所述集成电路的效能产生一数值；

根据所述硬件效能监视器产生的所述数值，提供一个效能函数，其中所述效能函数包含多个项目，且每一所述项目各自关联于一权重；

根据所述集成电路中的多个第一集成电路计算所述项目的所述权重，其中所述多个第一集成电路的效能为已知；以及

根据所述效能函数计算所述集成电路中的多个第二集成电路的效能，其中所述效能函数与所述权重内建于所述第二集成电路中。

2.根据权利要求1所述的用以计算一集成电路的效能的方法，其特征在于，每一所述硬件效能监视器包含一环形振荡器，用以产生一计数值，其中所述计数值指示所述环形振荡器的一信号的频率。

3.根据权利要求2所述的用以计算一集成电路的效能的方法，其特征在于，所述效能函数表示如下：

f(x)＝w₀+w₁₁x₁+w₁₂x₁²+w₂₁x₂+w₂₂x₂²+…+w_n1x_n+w_n2x_n²,

其中f(x)为所述效能函数，x₁,x₂,…,x_n为每一所述硬件效能监视器分别计数的计数值，w₀为一常数，且w₀,w₁₁,w₁₂,w₂₁,w₂₂,…,w_n1,w_n2为系数。

4.根据权利要求1所述的用以计算一集成电路的效能的方法，其特征在于，每一所述项目的所述权重经由所述集成电路中的所述多个第一集成电路与一机器学习方式而计算。

5.根据权利要求1所述的用以计算一集成电路的效能的方法，其特征在于，所述效能为所述集成电路的一操作频率。

6.一种电子装置，其特征在于，用于计算多个集成电路中的一者的效能，所述电子装置包含：

多个硬件效能监视器，位于所述集成电路中，其中每一所述硬件效能监视器根据对应的所述集成电路的效能产生一数值；

一储存单元，用以根据所述硬件效能监视器产生的所述数值以储存一效能函数中的多个权重，所述效能函数包含多个项目，其中所述效能函数中的每一所述项目分别关联于所述权重中的一对应者，且每一所述项目的所述权重是根据所述集成电路中的多个第一集成电路的效能所决定，所述多个第一集成电路的所述效能为已知；以及

一内建自我测试模块，用以根据在所述集成电路中的所述硬件效能监视器产生的所述数值与所述储存单元储存的所述权重，获得所述效能函数的一量值，借此计算所述集成电路中的一者的效能。

7.根据权利要求6所述的电子装置，其特征在于，所述集成电路的效能为所述集成电路的一操作频率。

8.根据权利要求7所述的电子装置，其特征在于，还包含：

一联合测试行动组连接端口，用以输出所述集成电路的一操作频率。

9.根据权利要求6所述的电子装置，其特征在于，每一所述效能监视器包含一环形振荡器，用以产生一计数值，其中所述计数值表示所述环形振荡器的信号的频率。