[发明专利]一种微米级尺寸与外观缺陷综合检测装置有效

专利信息
申请号: 201310212861.1 申请日: 2013-06-02
公开(公告)号: CN104215172B 公开(公告)日: 2019-01-22
发明(设计)人: 李晓华;向桂山;王会 申请(专利权)人: 杭州欧谱洛博自动化技术有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/08;G01N21/88
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 311199 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 微米 尺寸 外观 缺陷 综合 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种微米级尺寸与外观缺陷综合检测装置,包括电感增量检测分度盘、输送盘、机器视觉检测系统,其特征在于:所述电感增量检测分度盘包含14个工位,输送盘为透明材料制成,输送盘下方设有检测轴承滚子底面外观的检测探头;14工位电感增量检测分度盘为圆形轮盘结构,轮盘外侧配以半弧形金属挡板;所述输送盘为圆盘结构,中心开孔,输送盘中心具有输送盘转动轴,并在开孔处通过十字形支架与输送盘转动轴固定。

2.根据权利要求1所述的一种微米级尺寸与外观缺陷综合检测装置,其特征在于:所述输送盘的上方还设有检测轴承滚子顶面外观的检测探头。

3.根据权利要求1所述的一种微米级尺寸与外观缺陷综合检测装置,其特征在于:所述检测探头包括高速相机和照明光源。

4.根据权利要求1所述的一种微米级尺寸与外观缺陷综合检测装置,其特征在于:所述输送盘采用透明玻璃或其它合适透明材料制成。

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