[实用新型]一种大尺寸晶体检验台有效
| 申请号： | 201220738742.0 | 申请日： | 2012-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN202994768U | 公开（公告）日： | 2013-06-12 |
| 发明（设计）人： | 刘锋;朱杰;柳祝平;王晓林 | 申请（专利权）人： | 福建鑫晶精密刚玉科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N33/00 | 分类号： | G01N33/00 |
| 代理公司： | 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 | 代理人： | 连耀忠 |
| 地址： | 364000 福建省龙岩市*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 尺寸 晶体 检验 | ||
【权利要求书】：
1.一种大尺寸晶体检验台，其特征在于，包括主台体、检验槽、滚动装置，所述的检验槽设置在主台体顶部，且开口朝上，滚动装置设置在检验槽上。
2.根据权利要求1所述的大尺寸晶体检验台，其特征在于，滚动装置包括套管、转轴，所述的转轴套装于套管中，转轴固定安装在检验槽上。
3.根据权利要求2所述的大尺寸晶体检验台，其特征在于，滚动装置至少一个，所述的滚动装置沿检验槽表面分布。
4.根据权利要求2所述的大尺寸晶体检验台，其特征在于，所述的检验槽为U型弧面。
5.根据权利要求4所述的大尺寸晶体检验台，其特征在于，U型弧面横向设置有平行的沟槽，滚动装置安装在沟槽内。
6.根据权利要求5所述的大尺寸晶体检验台，其特征在于，沟槽的深度小于套管的直径。
7.根据权利要求2所述的大尺寸晶体检验台，其特征在于，所述的检验槽为两个带U型开口的支撑架构成的U型导轨。
8.根据权利要求7所述的大尺寸晶体检验台，其特征在于，U型开口上设置有缺口，两个支撑架的U型开口上的缺口位置对称，滚动装置安装在缺口内。
9.根据权利要求8所述的大尺寸晶体检验台，其特征在于，缺口的深度小于套管的直径。
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