[发明专利]可提高分辨率的CCD像元的几何形状无效
申请号: | 200810050583.3 | 申请日: | 2008-04-10 |
公开(公告)号: | CN101257034A | 公开(公告)日: | 2008-09-03 |
发明(设计)人: | 翟林培;丁亚林;翟岩 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | H01L27/148 | 分类号: | H01L27/148 |
代理公司: | 长春菁华专利商标代理事务所 | 代理人: | 刘树清 |
地址: | 130033吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 提高 分辨率 ccd 几何 形状 | ||
技术领域
本发明属于CCD器件制造及应用技术领域,涉及的CCD像元的几何形状。
背景技术
CCD器件已被广泛应用于多种光电成像系统,是现代光学信息传递的有代表性的接收成像器件,其分辨率主要由它的像元几何形状和尺寸大小决定。CCD像元尺寸的大小受多种条件的限制,不能将CCD像元尺寸无限制的缩小,达到提高CCD器件分辨率的目的。如何提高CCD器件的分辨率,一直受到从事CCD器件研究、制造及应用人士的高度重视。
本发明以前,人们熟知的传统的CCD器件的像元几何形状多为正方形、长方形、正八边形等比较规则的几何形状。这些规则的CCD像元的几何形状,在应用上要达到提高CCD器件分辨率的目的是非常困难的。
发明内容
本发明的目的在于用新的CCD像元的几何形状,以提高CCD器件的分辨率,克服已有技术存在的限制。
本发明要解决的技术问题是:提供可提高分辨率的CCD像元的几何形状。解决技术问题的技术方案是:用相交的两条直线或曲线,且交点在像元内,将传统的CCD像元划分出四个面积相等的子区,本发明所指的CCD像元的几何形状,是去掉其中任意一个子区块后形成的像元的几何形状。
原理及应用方法说明:图1中示出两条曲线,虚线为传统的正方形像元CCD的频率特性曲线,实线为缺子区块像元的频率特性曲线,缺子区块像元的频率特性曲线的带宽比传统的正方形像元的频率特性带宽加宽了一倍,说明它的分辨率提高了。
缺子区块像元的CCD和常规像元的CCD的用法相同,但缺子区块像元的CCD有更多的使用方法,举例说明,图2所示的是两个缺子块像元的线阵CCD,左边的线阵CCD的像元形状是本发明指出的在传统正方形像元的基础上去掉左上角子区块后形成的像元几何形状,右边的线阵CCD的像元形状是本发明指出的在传统正方形像元的基础上去掉右下角子区块后形成的像元几何形状。去掉的子区块的位置不同,所形成的像元几何形状是不同的,但它们都是由正方形像元按本发明技术方案去掉一个子区块后形成的像元形状。
两个线阵CCD彼此相距N个像元,N为整数。两线阵CCD的像元一一对应并在同一直线上,如图2中虚线所示。实现这种情况可以将这两个线阵CCD集成到同一个基片上,也可以通过其它方法如光学方法实现。
设左边的CCD为CCD1,右边的CCD为CCD2,CCD的采样步长为其中b为原正方形像元的边长,在第2N次采样后,CCD2的采样位置将和CCD1的采样位置重合。由于CCD所有的像元所发生的情况都相同,所以仅用一个像元来说明。采样过程中,像元子区获得的图像信号用aij表示,如图3所示。
设CCD1的像元输出为yk,CCD2的像元输出为xk,可以认为,每个CCD像元的输出是三个子区的共同贡献,则
y1=a12+a21+a22 x1=a11+a12+a21
y2=a13+a22+a23 x2=a12+a13+a22
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yn=a1n+a2(n-1)+a2n xn=a1(n-1)+a1n+a2(n-1)
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的