[发明专利]半导体结构及集成电路在审
申请号: | 202210569872.4 | 申请日: | 2022-05-24 |
公开(公告)号: | CN115116951A | 公开(公告)日: | 2022-09-27 |
发明(设计)人: | 吴国晖;王柏钧;陈志良;田丽钧 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/8234 | 分类号: | H01L21/8234;H01L27/088 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国 |
地址: | 中国台湾新竹市*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 结构 集成电路 | ||
一种半导体结构及集成电路,半导体结构包括形成于基板上的隔离结构、形成于隔离结构上的环绕式栅极晶体管结构、电性耦接至环绕式栅极晶体管结构栅极的通孔,以及在隔离结构内并电性耦接至通孔的埋入式导电垫,上述埋入式导电垫可以在两个维度上(例如在垂直维度与水平维度上)延伸通过隔离结构,上述半导体结构具有其他可能的优势,其中之一是可以在布线灵活性的方面提供优势。
技术领域
本揭示内容有关半导体装置,尤其是关于包括半导体装置的电路的设计布局。
背景技术
本揭示内容是有关半导体装置和用于制造半导体装置的方法,尤其是关于包括半导体装置的电路的设计布局。随着半导体装置的特征尺寸不断减小,对电路布局中空间使用的限制经常会出现,半导体装置用于各种电子产品,且通常需要同时改进半导体装置的制造和性能。
发明内容
本揭示内容的一实现方式是半导体结构。此半导体结构包括形成于基板上的隔离结构、形成于隔离结构上的环绕式栅极晶体管结构、通孔及埋入式导电垫。上述通孔电性耦接至环绕式栅极晶体管结构的栅极端,而上述埋入式导电垫形成于隔离结构内并电性耦接至上述通孔。
本揭示内容的另一实现方式是集成电路。此集成电路包括形成于基板上的浅沟槽隔离结构、形成于浅沟槽隔离结构上且环绕多条纳米线的栅极结构、电性耦接至栅极结构的通孔、以及埋入式导电垫,上述埋入式导电垫形成于浅沟槽隔离结构内并电性耦接至上述通孔,且在浅沟槽隔离结构内延伸于两个维度上。
本揭示内容的又一实现方式是另一半导体结构。此半导体结构包括形成于基板上的隔离结构、形成于隔离结构上且环绕多个纳米片的栅极结构、电性耦接至栅极结构的通孔、以及埋入式导电垫,上述埋入式导电垫形成于浅沟槽隔离结构内并电性耦接至上述通孔,且在隔离结构内延伸于水平维度和垂直维度上。
附图说明
以下详细描述结合附图阅读时,可以最好地理解本揭示内容的各方面。注意,根据行业中的标准实践,各种特征并未按比例绘制。事实上,为了讨论的清楚起见,各种特征的尺寸可以任意扩大或缩小。
图1A示出根据一些实施例的实例半导体结构的俯视图;
图1B示出根据一些实施例的图1A的半导体结构的剖面图;
图1C示出根据一些实施例的图1A的半导体结构的另一剖面图;
图2示出根据一些实施例的另一例示半导体结构的俯视图;
图3A示出根据一些实施例的实例电路布局的俯视图;
图3B示出根据一些实施例的图3A的实例电路布局的仰视图;
图4A示出根据一些实施例的实例电路布局的俯视图;
图4B示出根据一些实施例的图4A的实例电路布局的仰视图;
图4C示出根据一些实施例且对应于图4A至图4B的布局的实例电路图;
图5A示出根据一些实施例的实例电路布局的俯视图;
图5B示出根据一些实施例的图5A的实例电路布局的仰视图;
图5C示出根据一些实施例且对应于图5A至图5B的布局的实例电路图。
【符号说明】
100:半导体结构
110:磊晶区
120:通道结构
130:埋入式导电垫
140:栅极结构
150:剖面
160:剖面
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造