[发明专利]测试集成电路的引线架结构无效
| 申请号： | 99814830.X | 申请日： | 1999-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN1331805A | 公开（公告）日： | 2002-01-16 |
| 发明（设计）人： | 杨绪恺 | 申请（专利权）人： | 凯特克工程公司 |
| 主分类号： | G01R31/316 | 分类号： | G01R31/316 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 吴立明,张志醒 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种测试组件(300)含容附著于一导线架(200)的多个电子设备(210、220);电子设备(210、220)的导线(212、222)从导线架(200)被切齐来电气绝缘导线(212、222);至少一部分的导线架(200)被安装进在测试组件(300)上的一插座(260、262)内。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 集成电路 引线 结构 | ||
【主权项】：
1.一种测试装置，包含有：一导线架部分，其上连接具有一个或多个插脚的多个电子设备单元；及一插座，可供该导线架部分安装于其中，该插座具有电气耦合至该等电子设备单元的对应插脚的导体。
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