[发明专利]测试集成电路的引线架结构

权利要求书

1.一种测试装置，包含有：

一导线架部分，其上连接具有一个或多个插脚的多个电子设备单元；及

一插座，可供该导线架部分安装于其中，该插座具有电气耦合至该等电子设备单元的对应插脚的导体。

2.依据权利要求1的测试装置，进一步含有一个或多个额外插座和安装在该额外插座中的一个或多个额外导线架部分，各个额外导线架部分附接多个电子设备。

3.依据权利要求1的测试装置，其中该等电子设备之该等一个或多个插脚包括已从该导线架部分分离的导线。

4.依据权利要求1的测试装置，进一步包含一支持结构，具有多个电气传导线路耦合至该插座，以允许个别存取在该导线架部分上的该等电子设备单元。

5.依据权利要求1的测试装置，进一步包含多个隔离电阻器，该等电阻器电气地耦合至电子设备单元的插脚，使得即使一短路在一电子设备单元的插脚中之一上发生仍可进行测试。

6.一种组装和测试电子设备单元的方法，该方法包含：

把该等电子设备单元附着至一条带上；

把该条带的至少一部分安装在包括电气耦合至在该条带部分上的该等电子设备单元的多个导体的一测试插座中；及

把测试信号提供至该测试插座来测试该等电子设备单元。

7.依据权利要求6的方法，进一步包含把该等电子设备单元封装在该条带上并把该等电子设备单元的导线从该条带分离。

8.依据权利要求6的方法，进一步包含把该条带分离成多个段并把该等条带段安装至对应的测试插座中。

9.依据权利要求6的方法，进一步包含：

判定任一个该等电子设备单元是否在一DC测试中失败；及

从该条带除去一个或多个故障的电子设备单元。

10.依据权利要求6的方法，进一步包含：

把该条带的至少一部分耦合在一DC测试组件中来识别一个或多个电子设备单元的导线的短路；及

从该条带之该部分除去具有短路的导线的电子设备单元。

11.依据权利要求10的方法，进一步包含把该测试插座安装在一DC测试组件中。

12.依据权利要求11的方法，进一步包含从该DC测试组件除去该测试插座并把该测试插座安装在一功能测试组件中来接收该等测试信号。

13.一种测试组件，用来测试电子设备，该总成包含：

多个插座；

安装在对应插座中的多个导线架部分，各导线架部分被附接多个电子设备，且各电子设备具有与该导线架部分分离的至少一插脚。

14.依据权利要求13的测试组件，进一步包含供该等插座被安装在其上的一支持结构，及形成在该支持结构上来接收测试信号的多个电气接点。

15.依据权利要求14的测试组件，其中该支持结构包括一印刷电路板。

16.依据权利要求13的测试组件，其中该等电子设备被配置在各导线架部分中成一矩阵。

17.一种形成一测试组件的方法，该总成含容多个电子设备，该方法包含：

把该等电子设备附着至一导线架；

从该导线架把该等电子设备的导线切齐以电气隔离该等导线；及

把该导线架至少一部分安装至在该测试组件中的一插座内。

18.依据权利要求17的方法，进一步包含在该等电子设备已被附着至该导线架后把该等电子设备包封。

19.依据权利要求17的方法，进一步包含把该插座附着至一支持结构并在该支持结构中形成电气接点来接收测试信号。

20.一种测试器，用来测试电子设备，该测试器包含有：

测试组件；

收纳该等测试组件的端口；及

一多工器和驱动器阵列，供选择一个或多个该等端口以接收测试信号，

各测试组件包括有一插座及安装在该插座中并附接多个电子设备的一条带部分。

21.依据权利要求20的测试系统，进一步包含一测试模型产生器来把测试信号提供至该多工器和驱动器阵列。