[发明专利]检测静态随机存储器的方法

摘要

一种检测静态随机存储器的方法,其主要针对静态随机存储器(SRAM)电子线路开路的不确定性及短路的不良特性,以测试相关联的地址单元数据的方法,来检测静态随机存储器(SRAM)的电子线路(主要是地址线和数据线)是否有开路或短路的情形,且根据检测结果的指示,可得知该静态随机存储器(SRAM)发生故障的原因。

主权项

1．一种检测静态随机存储器的方法，其主要是针对静态随机存储器(SRAM)的信号线(主要是地址线和数据线)开路和短路所作的全面性的检测方法，其步骤包括：(1)先检测待测静态随机存储器(SRAM)中除地址线、数据线外的其他信号线，其包括电源线、地线、选通线、读信号、写信号；(2)如果待测静态随机存储器(SRAM)中经检测后，除地址线、数据线外的其他信号线，并未有故障时，则以重复测试特定地址单元数据的检测方法，并以最大限度，来检测该待测静态随机存储器(SRAM)的数据线是否有开、短路的情形；(3)如果经检测后，该待测静态随机存储器(SRAM)的数据线开、短路未有故障的情形时，则继续针对其短路状况，采用同时测试相关地址单元数据的检测方法，以判定地址线是否有短路的情形；(4)最后，如果经检测后，该待测静态随机存储器(SRAM)的地址线也未有短路的情形时，即针对其开路状况，采用重复测试特定地址单元的检测方法，以最大限度继续检测出其地址线是否有开路的情形。