[发明专利]检测静态随机存储器的方法

说明书

本发明涉及一种检测静态随机存储器的方法，特别是涉及一种以测试相关的地址单元数据，来重复检测电子线路是否有开路或短路情形，从而得知静态随机存储器(SRAM)电子线路是否出故障的方法。

所谓静态随机存储器(Static Random Access Memory，以下简称SRAM)是一种广泛用于个人数字助理(Personal Digital Assistant，简称PDA)、个人电脑(Personal Computer，简称PC)等电子产品的存储装置。由于静态随机存储器(SRAM)中存储数据，对与其配合的相关电子产品极为重要，所以，一般相关领域对静态随机存储器(SRAM)读写是否正确要求非常严格，用静态随机存储器(SRAM)检测，已成为与之配合的相关电子产品在出货前的重要程序。

一般而言：导致静态随机存储器(SRAM)读写错误的原因在于，静态随机存储器(SRAM)焊接不好，导致静态随机存储器(SRAM)信号线(主要是地址线和数据线)短路、开路(断路)，其中，短路是指接通了本来不应该相联的信号线，开路是指原本应该接通的信号线未能接通。现有的检测静态随机存储器(SRAM)方法，在检测时，主要是按地址单元逐一写入、读出测试数据，再通过读出数据与写入数据比较确定测试结果后，由结果判定静态随机存储器(SRAM)是否读出、写入正确，然而上述检测方法却有以下几个重大缺点：

1．无法检测出静态随机存储器(SRAM)因地址线短路，所引发的读、写错误。

2．无法可靠地检测出地址线开路和数据线的故障。

3．无法明确指示静态随机存储器(SRAM)故障原因，不利于排除故障。

用上述检测方法测试32K字节静态随机存储器(SRAM)为例，32KB静态随机存储器(SRAM)共有地址线15根(记为A0-A14)，若地址线A0与地线短路，测试时，无论将A0设为0(即为低电位电路)或1(即为高电位电路)，实际上该A0皆为0，即对所有地址为XXXXXXXXXXXXXX1进行操作时，者会落到地址为XXXXXXXXXXXXXX0的单元，因此可知，虽写入的地址单元已经错误，但通过上述的测试方法，所得到的写入、读出的结果仍然正确，由此而知，上述现有的检测方法显然对同类地址线短路问题无能为力。

鉴于上述现有的应用软件在安装时所存在的一些缺陷，本发明提供一种检测静态随机存储器的方法。

本发明的目的在于提供一种检测静态随机存储器的方法，其主要是在测试时，针对电子线路开路的不确定性和短路不良的特性下，全面地逐一检测相关静态随机存储器(SRAM)数据，能可靠地检测出静态随机存储器(SRAM)的数据线、地址线开路、短路是否有故障。

本发明的另一目的在于提供一种检测静态随机存储器的方法，其是一种可根据检测结果，得知静态随机存储器(SRAM)发生不故障的方法。

本发明的目的是这样实现的，即提供一种检测静态随机存储器的方法，其主要是针对静态随机存储器(SRAM)的信号线(主要是地址线和数据线)开路和短路所作的全面性的检测方法，其步骤包括：(1)先检测待测静态随机存储器(SRAM)中除地址线、数据线外的其他信号线，其包括电源线、地线、选通线、读信号、写信号，因如该各信号线有故障，则无法测试地址线和数据线，也无法继续进行测试；(2)如待测静态随机存储器(SRAM)中经检测后，除地址线、数据线外的其他信号线，并未有故障的情形时，则以重复测试特定地址单元数据的检测方法，并以最大限度，来检测该待测静态随机存储器(SRAM)的数据线是否有开、短路的情形；(3)如果经检测后，该待测静态随机存储器(SRAM)的数据线开、短路未有故障的情形时，则继续针对其短路状况，采用同时测试相关地址单元数据的检测方法，以判定地址线是否有短路的情形；(4)最后，如果经检测后，该待测静态随机存储器(SRAM)的地址线也未有短路的情形时，即针对其开路状况，采用重复测试特定地址单元的检测方法，以最大限度继续检测出其地址线是否有开路的情形；通过上述步骤的执行，能可靠地检测出静态随机存储器(SRAM)的次品，且将故障状况确切具体显示出来，进而提高了静态随机存储器(SRAM)检测时的除错效率。

下面结合附图，详细说明本发明的实施例，其中：

图1为本发明检测数据线是否有短路的流程图；

图2为本发明检测数据线是否有开路的流程图；

图3为本发明检测地址线是否有短路的流程图；

图4为本发明检测地址线是否有开路的流程图。