[发明专利]检测静态随机存储器的方法

权利要求书

1．一种检测静态随机存储器的方法，其主要是针对静态随机存储器(SRAM)的信号线(主要是地址线和数据线)开路和短路所作的全面性的检测方法，其步骤包括：

(1)先检测待测静态随机存储器(SRAM)中除地址线、数据线外的其他信号线，其包括电源线、地线、选通线、读信号、写信号；

(2)如果待测静态随机存储器(SRAM)中经检测后，除地址线、数据线外的其他信号线，并未有故障时，则以重复测试特定地址单元数据的检测方法，并以最大限度，来检测该待测静态随机存储器(SRAM)的数据线是否有开、短路的情形；

(3)如果经检测后，该待测静态随机存储器(SRAM)的数据线开、短路未有故障的情形时，则继续针对其短路状况，采用同时测试相关地址单元数据的检测方法，以判定地址线是否有短路的情形；

(4)最后，如果经检测后，该待测静态随机存储器(SRAM)的地址线也未有短路的情形时，即针对其开路状况，采用重复测试特定地址单元的检测方法，以最大限度继续检测出其地址线是否有开路的情形。

2．如权利要求1所述的检测静态随机存储器的方法，其检测数据线短路的步骤包括：

(1)首先，将待测静态随机存储器(SRAM)中所有的数据清除后，并予以归零，再由原先储存于检测模块中所预设的数据库中任取一变量，再任取一地址设定为指定的地址；

(2)再将与该变量相对应的数据数值写入该指定的地址中，再由该指定地址读出数据，并由该指定地址读出数据后，将读出的数据与原先写入的数值加以比较，其比较方法是将读出数据与原先写入值来进行异或比较，若结果不为00，表示数据线有短路现象，即停止继续测试的动作；

(3)如结果为00，表示数据线未发现短路现象，则继续判断所取的变量是否小于设定值，如是，则将该变量值加1，并回到第(2)步骤，并重复执行第(2)至第(3)步骤，直到变量值等于设定值，才继续进行有关数据线开路的测试。

3．如权利要求1所述的检测静态随机存储器的方法，其检测数据线开路的步骤包括：

(1)首先，将待测静态随机存储器(SRAM)中所有的数据清除后，并予以归零，再设定待测静态随机存储器(SRAM)中其中一地址为指定地址；

(2)再任取一数据，将表示该数据的数值写入指定地址中，并由该地址读出数据，将读出的数据与原先写入的数值加以比较后；以异或的方式比较，再判断是否已达到所设定的循环次数，如未到设定的次数，即再判断比较的结果是否等于00，如不等于00，即将其结果显示出来，同时，停止测试动作；

(3)如判断比较的结果，等于00时，则将原先设定的循环次数减1，再取另一个数据值与原先所取数据值为互补交错，取代原先所取的数据值后，再将表示该数据的数值写入指定地址中，并由该地址读出数据，将读出的数据与原先写入的数值以异或的方式比较，再判断是否已达到所设定的循环次数，如未到设定的次数，即再判断比较的结果是否等于00，如不等于00，则将结果显示出来，同时，停止测试的动作；

(4)如判断比较的结果，等于00时，则将原先设定的循环次数减1，并重复第(2)(3)的步骤，直到设定的循环执行完毕后，再继续下一个测试动作。