[发明专利]分析电路测试结果的装置和方法及存储分析程序的记录介质

摘要

一个智能数据库23存储有关一个LSI存储单元的一个译码器和存储单元基于一个衬底的互连信息和位置信息,并进一步存储用于判断被电测试装置22认为有缺陷的存储单元是否真有缺陷的程序。缺陷数据分离计算机21向智能数据库23查阅关于被电测试装置22认为有缺陷的存储单元是否真有缺陷。此时,智能数据库23判断所涉及的存储单元是否真有缺陷并随后根据位置信息指出该存储单元在衬底上的位置。

主权项

1．一种用于分析具有一个初级电路和一个次级电路组的电路的测试结果的电路测试结果分析装置，次级电路组包括在所述初级电路的影响下分别适应造成功能缺陷的多个次级电路，所述装置包括数据库装置和用于分离缺陷数据的缺陷数据分离装置，其中所述数据库装置保持有关分别配置在一个衬底上的所述初级电路和所述次级电路组的位置信息和所述初级电路和所述次级电路组之间的互连信息作为所述初级电路和所述次级电路组之间组合形式的信息，并判断当所有次级电路有同等功能缺陷时是所述初级电路造成缺陷，当所述次级电路组的一个次级电路比任何其它次级电路有更多功能缺陷时判断该特定次级电路造成缺陷；和其中所述缺陷数据分离装置根据所述数据库装置中的有关判断在一类属于造成某些缺陷的电路的缺陷数据和另一类属于不造成缺陷的电路的缺陷数据之间进行区分。