[发明专利]电子元件检验的方法

摘要

一种装置(1)包括处理装置(13)，它能够控制检验机(2)执行至少一些其步骤的，每次减少至少一个持续时间直到满足一个考虑由该装置在每个减少的持续时间值测量的电量的分布的终止标准，并设置至多等于企初始值的一个新的持续时间，所测量的电量分布满足一个所选择的分布条件。它还包括一个函数发生器(14)，它能提供应用于至少一个在一个所述步骤期间执行的比较的一个函数，使得所述函数在新的周期的测量上操作。

主权项

1.一种用于检验电子元件的方法，其中在一个初始日期，这些元件的电极被施加电压，在一个测量日期，测量建立在这些元件的端子上的电压值，并且比较这些测量的值与标准值，以便根据这个比较结果验收或废弃这些元件，其特征在于，对于比较，在一个初始学习阶段：在对应于所述初始日期后的一个标称等待持续时间的一个标称日期，为一批合格的元件和一个给定的检验确定所述测量的值的一个标称统计像点，在所述标称等待持续时间结束之前或之后的至少一个中间日期，为所述合格批量确定所述测量的值的一个中间统计像点，通过比较测量的值的标称的和中间统计像点，采用一个标准，选择在测量持续时间中的最早可能中间日期，和所述最早可能中间日期被选择作为所述检验的测量日期。