[发明专利]电子元件检验的方法

权利要求书

1.一种用于检验电子元件的方法，其中

在一个初始日期，这些元件的电极被施加电压，

在一个测量日期，测量建立在这些元件的端子上的电压值，并且

比较这些测量的值与标准值，以便根据这个比较结果验收或废弃这些元件，

其特征在于，对于比较，在一个初始学习阶段：

在对应于所述初始日期后的一个标称等待持续时间的一个标称日期，为一批合格的元件和一个给定的检验确定所述测量的值的一个标称统计像点，

在所述标称等待持续时间结束之前或之后的至少一个中间日期，为所述合格批量确定所述测量的值的一个中间统计像点，

通过比较测量的值的标称的和中间统计像点，采用一个标准，选择在测量持续时间中的最早可能中间日期，和

所述最早可能中间日期被选择作为所述检验的测量日期。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：

所确定的统计像点包括一个对验收合格的批量的测量结果的平均值的估计。

3.根据权利要求1至2中任一项所述的方法，其特征在于：

所确定的统计像点包括一个对验收合格的批量的测量结果的标准偏差的估计。

4.根据权利要求1至2中任一项所述的方法，其特征在于：

所确定的统计像点包括一个对一个第一量和一个第二量之间的比率的估计，其中第一量等于测量结果的平均值和这个平均值的容差极限的差值的绝对值，第二量等于合格批量的测量结果的标准偏差。

5.根据权利要求1至2中任一项所述的方法，其特征在于

确定一个称为检验像点的一个被检验电子元件的统计像点，并且

借助于所述准则，根据标称统计与测量的像点的比较结果改变测量日期。

6.根据要求1至2中任一项所述的方法，其特征在于：

所述标准值被中间标准值所替代，该中间标准值通过在所述标称等待周期结束之前的一个中间日期相对一批合格的元件其端子上建立的势能的渐近中间值的一个测量结果得到的。

确定这些中间值的中间极限，并且

在测量日期其测量的值与这些中间极限相容的元件被选择作为合格的。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：

所述标准值被在一个中间日期被不同元件进行的测量结果的一个统计计算所得到的中间标准值所替代。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于所述统计计算是一个过滤以减少异常值的操作。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于：

所述统计计算是所述测量的值的一个平均。

10.根据权利要求7至9所述的方法，其特征在于：

当所述测量的值大于所述中间标准值时，元件被看作合格的。

11.根据权利要求7至9所述的方法，其特征在于：

当所述测量的值小于所述中间标准值时，元件被验收为合格的。

12.根据权利要求7至9所述的方法，其特征在于：

当所述测量的值在一个给定的容差内等于所述中间标准值，则元件被验收为合格的。

13.根据方法1中的一个的方法，其特征在于：

一个中间日期，也就是最早可能日期，通过在一批合格元件进行所述方法的循环而被选取，其间所述中间日期渐近地离开标称等待持续时间的结束处。

根据所述标准当标称和中间统计像点不再兼容时循环停止。

14.根据权利要求13所述的方法，其特征在于：

所述中间日期离开的进程是单调递减的。

15.根据权利要求1至2中任一项所述的方法，其特征在于被测量的势能经历了一个跟随有稳定阶段的一个过渡阶段，在所述过渡阶段中的一个中间日期被选取。