[发明专利]半导体电路逻辑验证装置无效
| 申请号: | 96118568.6 | 申请日: | 1996-12-09 |
| 公开(公告)号: | CN1169560A | 公开(公告)日: | 1998-01-07 |
| 发明(设计)人: | 三川行治;谷隆浩;上沟忠辉 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社;三菱电机半导体软件株式会社 |
| 主分类号: | G06F11/26 | 分类号: | G06F11/26 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 姜郛厚,叶恺东 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | 一种半导体电路逻辑验证装置,它能全面地、高速地进行激光微调熔丝元件的逻辑验证,它备有根据半导体电路的设计图数据和逻辑电路图数据,取出有关激光微调熔丝元件的信息的装置;根据取出的激光微调熔丝元件信息,生成表示激光微调熔丝元件被切断的命令串的装置;根据存储单元阵列模型,生成不良位存储单元阵列模型的装置;及根据对半导体电路模型的命令串,进行逻辑模拟的装置。 | ||
| 搜索关键词: | 半导体 电路 逻辑 验证 装置 | ||
【主权项】:
1.一种包含激光微调熔丝元件和存储单元阵列的进行半导体电路的逻辑验证的半导体电路逻辑验证装置,该半导体电路逻辑验证装置的特征在于备有:根据上述半导体电路的设计图数据和上述半导体电路的逻辑电路图数据,取出有关上述激光微调熔丝元件的信息的激光微调熔丝元件信息取出装置;根据由激光微调熔丝元件信息取出装置取出的激光微调熔丝元件信息,生成表示上述半导体电路中的上述激光微调熔丝元件被切断的逻辑模拟用的激光微调动作命令串的激光微调动作命令串生成装置;根据上述存储单元阵列准确工作时的存储单元阵列模型,生成表示上述存储单元阵列中存在不良位的不良位存储单元阵列模型的不良位存储单元阵列模型生成装置;根据上述激光微调动作命令串,对包括上述不良位存储单元阵列模型的上述半导体电路模型进行逻辑模拟的逻辑模拟执行装置;以及输出进行上述逻辑模拟的结果的输出装置。
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