[发明专利]半导体电路逻辑验证装置

权利要求书

1.一种包含激光微调熔丝元件和存储单元阵列的进行半导体电路的逻辑验证的半导体电路逻辑验证装置，该半导体电路逻辑验证装置的特征在于备有：根据上述半导体电路的设计图数据和上述半导体电路的逻辑电路图数据，取出有关上述激光微调熔丝元件的信息的激光微调熔丝元件信息取出装置；根据由激光微调熔丝元件信息取出装置取出的激光微调熔丝元件信息，生成表示上述半导体电路中的上述激光微调熔丝元件被切断的逻辑模拟用的激光微调动作命令串的激光微调动作命令串生成装置；根据上述存储单元阵列准确工作时的存储单元阵列模型，生成表示上述存储单元阵列中存在不良位的不良位存储单元阵列模型的不良位存储单元阵列模型生成装置；根据上述激光微调动作命令串，对包括上述不良位存储单元阵列模型的上述半导体电路模型进行逻辑模拟的逻辑模拟执行装置；以及输出进行上述逻辑模拟的结果的输出装置。

2.根据权利要求1所述的半导体电路逻辑验证装置，其特征在于：还备有根据半导体电路的设计图数据和激光微调熔丝元件的坐标验证用的控制命令文件，对激光微调熔丝元件的坐标进行验证的激光微调熔丝元件坐标验证装置，激光微调熔丝元件信息取出装置取出有关根据上述控制命令求得的坐标和设计图形数据的坐标一致的激光微调熔丝元件的信息。

3.根据权利要求1或权利要求2所述的半导体电路逻辑验证装置，其特征在于：还备有输入来自使用者的指示的输入装置，激光微调动作命令串生成部只对由激光微调熔丝元件信息取出装置取出的激光微调熔丝元件信息中与通过上述输入装置由使用者选择的激光微调熔丝元件有关的信息生成激光微调动作命令串。

4.根据权利要求1或权利要求2所述的半导体电路逻辑验证装置，其特征在于：还备有输入来自使用者的指示的输入装置，逻辑模拟执行装置只对包括不良位存储单元阵列模型的上述半导体电路模型中通过上述输入装置由使用者选择的部分进行逻辑模拟。

5.根据权利要求1或权利要求2所述的半导体电路逻辑验证装置，其特征在于：输出装置将激光微调动作不良的激光微调熔丝元件及与该激光微调熔丝元件连接的信号线同其它元件相区别地显示在画面上。