[发明专利]测定发光器件老化的方法及使用该方法的光发射驱动装置无效

专利信息
申请号: 96107206.7 申请日: 1996-04-05
公开(公告)号: CN1096060C 公开(公告)日: 2002-12-11
发明(设计)人: 小池重明;手塚贤;金子真二;三原义蔵 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: G11B7/00 分类号: G11B7/00;H01L21/66
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 杨梧,张玉红
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明包括一个电流探测器探测流经发光器件(激光二极管)的驱动电流Im;一个温度传感器安装在发光器件的附近;将电流探测器和温度传感器的输出传送给一台微机;根据在温度T1和温度T2(大于T1)时的驱动电流值获得的特定于发光器件的温度校正系数被储存在存储器中;对于测得的温度Ti计算一个老化阈值电流Id;对于测得的温度Ti当所测电流超过老化阈值电流Id时,便控制一个驱动器停止对发光器件提供驱动电流。
搜索关键词: 测定 发光 器件 老化 方法 使用 发射 驱动 装置
【主权项】:
1.一种用于测定发光器件的老化状态的测定老化的方法,其根据发光器件的驱动电流测定,该方法包括以下步骤:提供第一驱动电流,使发光器件产生一个预定的光输出,并将第一驱动电流值设定为基准值;设定一个为n倍于该基准值的驱动电流值作为确定该发光器件老化状态的老化阈值电流;提供第二驱动电流,使发光器件产生该预定的光输出,将第二驱动电流值与该老化阈值电流进行比较;根据该比较结果确定发光器件的老化。
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