[发明专利]测定发光器件老化的方法及使用该方法的光发射驱动装置

权利要求书

1.一种用于测定发光器件的老化状态的测定老化的方法，其根据发光器件的驱动电流测定，该方法包括以下步骤：

提供第一驱动电流，使发光器件产生一个预定的光输出，并将第一驱动电流值设定为基准值；

设定一个为n倍于该基准值的驱动电流值作为确定该发光器件老化状态的老化阈值电流；

提供第二驱动电流，使发光器件产生该预定的光输出，将第二驱动电流值与该老化阈值电流进行比较；

根据该比较结果确定发光器件的老化。

2.根据权利要求1所述的测定老化的方法，其中，所述的发光器件包括一激光二极管。

3.根据权利要求1所述的测定老化的方法，其中，所述的n值是在1.2至1.3的范围内。

4.根据权利要求1所述的测定老化的方法，其中，所述的基准值是一个在常温下能使发光器件提供预定光输出的驱动电流值。

5.一种用于测定发光器件老化状态的测定老化的方法，其根据发光器件的驱动电流测定，该方法包括以下步骤：

提供第一驱动电流，使发光器件产生一个预定的光输出，并将第一驱动电流值设定为基准值；

在该基准值上加一个校正电流值以得到一个校正基准值，该校正电流值是与该发光器件的类型相同的发光器件的温度校正系数的平均值；

设定一个为n倍于该校正基准值的驱动电流值作为确定该发光器件老化状态的老化阈值电流；

提供第二驱动电流，使该发光器件产生该预定的光输出，并将第二驱动电流值与该老化阈值电流进行比较；

根据该比较结果确定该发光器件的老化。

6.根据权利要求5所述的测定老化的方法，其中，所述发光器件包括一激光二极管。

7.根据权利要求6所述的测定老化的方法，其中，所述温度校正系数的平均值为0.8。

8.根据权利要求5所述的测定老化的方法，其中，所述n值是在1.2至1.3的范围内。

9.根据权利要求5所述的测定老化的方法，其中，所述基准值是一个在常温下能使发光器件提供预定光输出的驱动电流值。

10.一种测定发光器件老化状态的测定老化的方法，其根据发光器件的驱动电流测定，该方法包括以下步骤：

提供第一驱动电流，使发光器件产生一个预定的光输出，并将第一驱动电流值设定为基准值；

在该基准值上加一个校正电流值以得到一个校正基准值，该校正电流值是特定于该发光器件的温度校正系数；

设定一个为n倍于该校正基准值的驱动电流值作为确定该发光器件老化状态的老化阈值电流；

提供第二驱动电流，使该发光器件产生该预定的光输出，将第二驱动电流值与该老化阈值电流进行比较；

根据比较结果确定该发光器件的老化。

11.根据权利要求10所述的测定老化的方法，其中，所述发光器件是激光二极管。

12.根据权利要求10所述的测定老化的方法，其中，所述温度校正系数η由下式给出：η＝(IT2-IT1)/(T2-T1)[mA/℃]其中，IT1是在第一个温度T1时的驱动电流值，IT2是在不同于第一个温度T1的第二个温度T2时的驱动电流值。

13.根据权利要求10所述的测定老化的方法，其中，所述的n值是在1.2至1.3的范围内。

14.根据权利要求10所述的测定老化的方法，其中，所述的基准值是一个在常温下能使发光器件提供预定光输出的驱动电流值。

15.一种光发射驱动装置，其用于控制发光器件的驱动电流以使该发光器件提供给定的光输出，该装置包括：

光检测装置，用于探测发光器件的光输出；

比较装置，用于将所述的光检测装置的输出与发光器件输出光的基准光输出值进行比较；

驱动装置，根据所述比较装置的输出供给发光器件一驱动电流，以使发光器件产生一个相当于基准光输出值的光输出；

电流检测装置，用于探测驱动电流值；

温度检测装置，用于探测发光器件的工作温度；

控制装置，根据所述电流检测装置和温度检测装置的输出测定发光器件的老化，根据测定结果停止给发光器件提供驱动电流。